[发明专利]一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试方法

说明书

本发明属于集成电路测试技术领域，具体说是一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试方法。通过N通道MOSFET管增强测试机数字通道产生的方波作为驱动器电路的逻辑输入信号；将驱动器电路的高端电源供电端和浮动源H端串联，浮动源L端和测试机高压源的H端相连，同时测试机的高压源H端连接到驱动器电路的高端悬浮偏移电压端上，从而实现高压供电，进而对驱动器电路全参数进行测试。本发明只需要制作一块测试电路板就能完成整个电路的测试需要，节约测试成本。

技术领域

本发明属于集成电路测试技术领域，具体说是一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试方法。

背景技术

在功率变换装置中，根据主电路的结构，其功率开关器件一般采用直接驱动和隔离驱动两种方式，隔离驱动分为电磁隔离和光电隔离，光电隔离存在共模抑制能力差，传输速度慢的缺点，电磁隔离用脉冲变压器作为隔离元器件，具有响应快的，抗干扰能力强，但是信号的最大传输宽度受磁饱和特性的限制，因而信号的顶部不易传输，而驱动器电路兼顾了光耦隔离和电磁隔离的有点，是中小功率变换装置中的首选。

驱动器的高电压、大电流、输入信号电平高等测试条件，一直是限制驱动器电路测试的关键因素，采用将电源、信号源、示波器等测试设备组装到一起进行测试，测试效率低、测试结果稳定性差，而以测试系统为平台，在系统平台技术指标前提下，通过使用外围元器件，将测试条件进行转换，满足测试需求，从而实现全参数测试，并兼顾了测试结果的稳定性和准确性，提高测试效率，是驱动器电路测试比较好的解决方案。

发明内容

本发明目的是提供一种高电压、大电流悬浮驱动器电路的测试方法，能够实现电路全参数测试，弥补集成电路测试系统驱动能力不足的缺陷。

本发明为实现上述目的所采用的技术方案是：

一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试系统，包括N通道MOSFET管、驱动器电路、多个电阻以及多个继电器，其中：N通道MOSFET管的栅极通过电阻R1连接测试机的数字通道，N通道MOSFET管的漏极分别连接驱动器电路的逻辑输入端IN以及通过电阻R2连接测试机的普通电源端FOVI-0，驱动器电路的高端电源供电端VB连接测试机的浮动电源FPVI-0的H端，驱动器电路的高端悬浮偏移电压端VS通过继电器K3连接测试机的高压源HVIK的H端，测试机的浮动电源FPVI-0的H端通过继电器K2连接测试机的高压源HVIK的H端，测试机的浮动电源FPVI-0的L端通过继电器K1连接测试机的高压源HVIK的H端。

一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试方法，将测试机输出的方波通过N通道MOSFET管输入到驱动器电路，将驱动器电路的高端电源供电端VB、高端悬浮偏移电压端VS、测试机的浮动电源FPVI-0以及测试机的高压源HVIK之间通过不同的继电器进行连接，通过控制不同继电器的通断，分别实现对驱动器电路的交流参数、高压漏电参数进行测试以及短路脉冲电流的测试。

对驱动器电路的交流参数进行测试，具体为：

设置驱动器电路的逻辑输入端IN的电压阈值A和输出端的电压阈值B，当逻辑输入端IN的电压值达到阈值A时，此时的时间作为参考时间1，当输出端的电压值达到阈值B时，此时的时间作为参考时间2，参考时间2与参考时间1的差值为待测试的交流参数。

对驱动器电路的高压漏电参数进行测试，具体为：

通过控制继电器K2，使将高端电源供电端VB和高端悬浮偏移电压端VS通过继电器进行短接，将高端悬浮偏移电压端VS通过继电器K3连接到高压源HVIK，通过高压源HVIK给VB和VS同时提供高压，测试此时的VB和VS上的电流之和，即为待测试的高压漏电参数。

对驱动器电路的短路脉冲电流进行测试，具体为：