[发明专利]基于计算的光模块消光比调试方法

权利要求书

1.一种基于计算的光模块消光比调试方法，其特征是，所述光模块消光比调试方法包括如下步骤：

步骤1、提供待调试的光模块，并将所述待调试光模块配置在开环模式；

步骤2、对开环模式下的待调试光模块，根据所述待调试光模块的光功率给定值，确定与所述光功率给定值适配的两个偏置电流DAC值，并将所确定的两个偏置电流DAC值分别写入待调试光模块的寄存器内；

步骤3、根据上述两个偏置电流DAC值，分别获取待调试光模块与所述偏置电流DAC值相应的光功率值Pwr0、光功率值Pwr1、偏置电流I_bias0、偏置电流I_bias1，且根据所获取的光功率值Pwr0、光功率值Pwr1、偏置电流I_bias0以及偏置电流I_bias1，确定待调试光模块内激光器的发光效率η以及所述待调试光模块的阈值电流I_th；

步骤4、根据消光比给定值以及上述光功率给定值，确定所述待调试光模块的消光比目标值Er、在计量单位为W下的平均光功率目标值P以及与平均光功率目标值P相对应的平均光功率下偏置电流I_bias；

步骤5、根据上述消光比目标值Er以及在在计量单位为W下的平均光功率目标值P，确定所述待调试光模块的低电平下功率P0以及高电平下功率P1；

步骤6、根据上述的低电平下功率P0、高电平下功率P1、计量单位为W下的平均光功率目标值P、平均光功率下偏置电流I_bias以及阈值电流I_th，确定调置电流I_mod；

步骤7、根据上述确定的调置电流I_mod，确定与在计量单位为W下的平均光功率目标值P相对应的调置DAC值MOD_DAC，并将所确定的调置DAC值MOD_DAC写入所述待调试光模块的寄存器中；

步骤8、对在调置DAC值MOD_DAC下的待调试光模块，读取所述待调试光模块的当前消光比值，若当前消光比大于所述待调试光模块的消光比规格最小值且小于所述待调试光模块的消光比规格最大值，则所述待调试光模块的消光比调试成功，否则，所述待调试光模块的消光比调试失败。

2.根据权利要求1所述的基于计算的光模块消光比调试方法，其特征是：步骤3中，待调试光模块内激光器的发光效率η为

η＝(Pwr1-Pwr0)/(I_bias1-I_bias0)；

待调试光模块的阈值电流I_th为

I_th＝Pwr0-η*I_bias0。

3.根据权利要求1所述的基于计算的光模块消光比调试方法，其特征是：步骤6中，对调置电流I_mod，则有Imod＝(P1-P0)(I_bias-I_th)/P。

4.根据权利要求1至3任一项所述的基于计算的光模块消光比调试方法，其特征是：步骤7中，根据调置电流I_mod，确定与在计量单位为W下的平均光功率目标值P相对应的调置DAC值MOD_DAC时，则有

I_mod＝(MOD_DAC+8)*0.1。

5.根据权利要求1至3任一项所述的基于计算的光模块消光比调试方法，其特征是，步骤5中，消光比目标值Er以及在在计量单位为W下的平均光功率目标值P，与低电平下功率P0以及高电平下功率P1的关系为：

P＝(P1+P0)/2，

Er＝10lg(P1/P0)；

其中，消光比目标值Er为计量单位为dB。

6.根据权利要求1至3任一项所述的基于计算的光模块消光比调试方法，其特征是，步骤4中，读取得到在计量单位为dBm下的平均光功率目标值P'，则计量单位为dBm下的平均光功率目标值P'与在计量单位为W下的平均光功率目标值P关系为：P＝10^(P′/10)。

7.根据权利要求1至3任一项所述的基于计算的光模块消光比调试方法，其特征是，步骤8中，利用眼图仪读取待调试光模块的当前消光比值。