[发明专利]基于计算的光模块消光比调试方法

说明书

本发明涉及一种基于计算的光模块消光比调试方法。其包括如下步骤：步骤1、提供待调试的光模块；步骤2、将两个偏置电流DAC值写入待调试光模块的寄存器内；步骤3、确定发光效率η以及阈值电流I_th；步骤4、确定消光比目标值Er、平均光功率目标值P以及平均光功率下偏置电流I_bias；步骤5、确定低电平下功率P0以及高电平下功率P1；步骤6、确定调置电流I_mod；步骤7、确定调置DAC值MOD_DAC并写入待调试光模块的寄存器中；步骤8、读取待调试光模块的当前消光比值，并将当前消光比大于消光比规格最小值以及消光比规格最大值比较。本发明能有效提高光模块消光比调试效率。

技术领域

本发明涉及一种光模块消光比调试方法，尤其是一种基于计算的光模块消光比调试方法。

背景技术

目前,调试光模块消光比时，通常采用步进法，所述步进法具体是指一种在有序数组中查找特定元素的搜索算法。因光模块的批次差异，需多次调试才能达到指标要求，调试过程中需要长时间占用眼图仪，导致生产制造成本高，设备利用率低。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种基于计算的光模块消光比调试方法，其能有效提高光模块消光比调试效率，提高生产设备的利用率。

按照本发明提供的技术方案，一种基于计算的光模块消光比调试方法，所述光模块消光比调试方法包括如下步骤：

步骤1、提供待调试的光模块，并将所述待调试光模块配置在开环模式；

步骤2、对开环模式下的待调试光模块，根据所述待调试光模块的光功率给定值，确定与所述光功率给定值适配的两个偏置电流DAC值，并将所确定的两个偏置电流DAC值分别写入待调试光模块的寄存器内；

步骤3、根据上述两个偏置电流DAC值，分别获取待调试光模块与所述偏置电流DAC值相应的光功率值Pwr0、光功率值Pwr1、偏置电流I_bias0、偏置电流I_bias1，且根据所获取的光功率值Pwr0、光功率值Pwr1、偏置电流I_bias0以及偏置电流I_bias1，确定待调试光模块内激光器的发光效率η以及所述待调试光模块的阈值电流Ith；

步骤4、确定所述待调试光模块的消光比目标值Er、在计量单位为W下的平均光功率目标值P以及与平均光功率目标值P相对应的平均光功率下偏置电流I_bias；

步骤5、根据上述消光比目标值Er以及在在计量单位为W下的平均光功率目标值P，确定所述待调试光模块的低电平下功率P0以及高电平下功率P1；

步骤6、根据上述的低电平下功率P0、高电平下功率P1、计量单位为W下的平均光功率目标值P、平均光功率下偏置电流I_bias以及阈值电流I_th，确定调置电流I_mod；

步骤7、根据上述确定的调置电流I_mod，确定与在计量单位为W下的平均光功率目标值P相对应的调置DAC值MOD_DAC，并将所确定的调置DAC值MOD_DAC写入所述待调试光模块的寄存器中；

步骤8、对在调置DAC值MOD_DAC下的待调试光模块，读取所述待调试光模块的当前消光比值，若当前消光比大于所述待调试光模块的消光比规格最小值且小于所述待调试光模块的消光比规格最大值，则所述待调试光模块的消光比调试成功，否则，所述待调试光模块的消光比调试失败。

步骤3中，待调试光模块内激光器的发光效率η为

η＝(Pwr1-Pwr0)/(I_bias1-I_bias0)；

待调试光模块的阈值电流I_th为