[发明专利]一种表贴晶振的可靠性筛选方法

权利要求书

1.一种表贴晶振的可靠性筛选方法，其特征在于，包括：

对表贴晶振进行电性能筛选测试，获取初始测试数据；

对所述表贴晶振进行力学筛选测试；

对所述表贴晶振进行热学筛选测试；

对所述表贴晶振进行常温电性能参数终测筛选测试；

对所述表贴晶振进行高低温测试筛选测试；

对表贴晶振进行外观检查非破坏性筛选测试；

根据上述筛选测试结果与初始测试数据的比对结果，筛选出符合要求的表贴晶振。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述进行电性能筛选测试包括：

对表贴晶振进行电性能参数测试，获取初始测试数据；

对表贴晶振进行外观检查非破坏性筛选测试；

对表贴晶振进行X光非破坏性筛选测试；

对表贴晶振进行密封非破坏性筛选测试；

对表贴晶振进行颗粒碰撞噪声测试非破坏性筛选测试。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述表贴晶振进行力学筛选测试包括：

对表贴晶振进行随机振动力学筛选检测；

对表贴晶振进行恒定加速度力学筛选检测。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述表贴晶振进行热学筛选测试包括：

对表贴晶振进行温度冲击热学筛选检测；

对表贴晶振进行非破坏性耐焊接热热学筛选检测。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在对所述表贴晶振进行电性能筛选测试之前，进行破坏性筛选测试，并根据所述破坏性筛选测试结果判断所述表贴晶振是否有批次性问题。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对所述表贴晶振进行温度冲击热学筛选检测包括：

将所述表贴晶振置于温度为-55℃的低温箱中，并在此温度下保持15分钟；

保温时间到，在1分钟内将所述表贴晶振从低温箱移至125℃的高温箱中，并在此温度下保持15分钟；

保温时间到，在1分钟内将试验样品从高温箱移至低温箱中，重复20次。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述表贴晶振进行恒定加速度力学筛选检测包括：

所述表贴晶振通过其外壳或者固定设备固定在加速度力学筛选检测装置上，并沿Y1方向上对所述表贴晶振施加1分钟的恒定加速度，

其中，所述表贴晶振趋向于脱出其基座的方向规定为Y1方向。

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对所述表贴晶振进行随机振动力学筛选检测包括：

在所述表贴晶振沿X轴安装在振动台上之后，按预设的谱形、量值、时间和容差进行随机振动试验；

使试验样品处于工作状态，并进行性能检测；

在所述表贴晶振沿Y轴安装在振动台上之后，按预设的谱形、量值、时间和容差进行随机振动试验；

使试验样品处于工作状态，并进行性能检测；

在所述表贴晶振沿Z轴安装在振动台上之后，按预设的谱形、量值、时间和容差进行随机振动试验；

使试验样品处于工作状态，并进行性能检测。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的方法，其特征在于，在每一项筛选测试完成后，进行常温频差测试，根据初始测试数据筛选出频差变化大的表贴晶振。