[发明专利]一种表贴晶振的可靠性筛选方法

说明书

本发明的一个实施例公开了一种表贴晶振的可靠性筛选方法，包括：对表贴晶振进行电性能筛选测试，获取初始测试数据；对所述表贴晶振进行力学筛选测试；对所述表贴晶振进行热学筛选测试；对所述表贴晶振进行常温电性能参数终测筛选测试；对所述表贴晶振进行高低温测试筛选测试；对表贴晶振进行外观检查非破坏性筛选测试；根据上述筛选测试结果与初始测试数据的比对结果，筛选出符合要求的表贴晶振。

技术领域

本发明涉及一种筛选方法。更具体地，涉及一种表贴晶振的可靠性筛选方法。

背景技术

表贴晶振体积虽小，却可以产生整个电子设备中的时钟信号，因此常被称为电子设备的“心脏”。因此，如果小型石英晶体振荡器出现问题甚至停整，对电子设备的工作一定是有重大影响甚至会导致系统失效。因此，提高表贴晶振的可靠性，对于电子设备甚至整个系统的重要性不言而喻。

发明内容

有鉴于此，本发明的一个实施例提供一种表贴晶振的可靠性筛选方法，包括：

对表贴晶振进行电性能筛选测试，获取初始测试数据；

对所述表贴晶振进行力学筛选测试；

对所述表贴晶振进行热学筛选测试；

对所述表贴晶振进行常温电性能参数终测筛选测试；

对所述表贴晶振进行高低温测试筛选测试；

对表贴晶振进行外观检查非破坏性筛选测试；

根据上述筛选测试结果与初始测试数据的比对结果，筛选出符合要求的表贴晶振。

在一个具体实施例中，所述进行电性能筛选测试包括：

对表贴晶振进行电性能参数测试，获取初始测试数据；

对表贴晶振进行外观检查非破坏性筛选测试；

对表贴晶振进行X光非破坏性筛选测试；

对表贴晶振进行密封非破坏性筛选测试；

对表贴晶振进行颗粒碰撞噪声测试非破坏性筛选测试。

在一个具体实施例中，所述对所述表贴晶振进行力学筛选测试包括：

对表贴晶振进行随机振动力学筛选检测；

对表贴晶振进行恒定加速度力学筛选检测。

在一个具体实施例中，所述对所述表贴晶振进行热学筛选测试包括：

对表贴晶振进行温度冲击热学筛选检测；

对表贴晶振进行非破坏性耐焊接热热学筛选检测。

在一个具体实施例中，在对所述表贴晶振进行电性能筛选测试之前，进行破坏性筛选测试，并根据所述破坏性筛选测试结果判断所述表贴晶振是否有批次性问题。

在一个具体实施例中，对所述表贴晶振进行温度冲击热学筛选检测包括：

将所述表贴晶振置于温度为-55℃的低温箱中，并在此温度下保持15分钟；

保温时间到，在1分钟内将所述表贴晶振从低温箱移至125℃的高温箱中，并在此温度下保持15分钟；

保温时间到，在1分钟内将试验样品从高温箱移至低温箱中，重复20次。

在一个具体实施例中，对所述表贴晶振进行恒定加速度力学筛选检测包括：

所述表贴晶振通过其外壳或者固定设备固定在加速度力学筛选检测装置上，并沿Y1方向上对所述表贴晶振施加1分钟的恒定加速度，

其中，所述表贴晶振趋向于脱出其基座的方向规定为Y1方向。