[发明专利]雷达校准方法、雷达、上位机、校准系统及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111535235.7 申请日: 2021-12-15
公开(公告)号: CN114236511A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 蒋从洋;钟福林;胡小波 申请(专利权)人: 深圳市镭神智能系统有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/08
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 潘登
地址: 518104 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 雷达 校准 方法 上位 系统 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种雷达校准方法,所述雷达包括至少一个激光器,其特征在于,所述方法包括:

获取所述激光器的待校准点云数据,所述待校准点云数据包括第一测量距离和第一信号强度;

根据所述激光器对应的校准函数确定所述第一信号强度对应的校准偏差,其中,所述校准函数包括若干个用于表征所述第一信号强度与所述第一测量距离的校准偏差关系的分段校准函数,每个所述分段校准函数对应不同的信号强度区间,所述校准函数是根据所述雷达对绕所述雷达螺旋式排列的多个反射板进行旋转扫描的过程中所述激光器对应的点云数据确定的,所述多个反射板对应的扫描角度范围连续拼接;

根据所述校准偏差对所述第一测量距离进行校准,得到校准后的距离。

2.一种雷达校准方法,所述雷达包括至少一个激光器,其特征在于,包括:

获取所述雷达对绕所述雷达螺旋式排列的多个反射板进行旋转扫描的过程中所述激光器对应的点云数据,所述多个反射板对应的扫描角度范围连续拼接,所述点云数据包括所述多个反射板上的测量点的坐标数据,所述坐标数据包括角度、第二测量距离以及第二信号强度;

根据所述多个反射板上的测量点的所述角度、所述第二测量距离以及所述第二信号强度,拟合所述激光器的校准曲线;

根据所述校准曲线,计算所述激光器的校准函数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

设置所述多个反射板的起始扫描位置;

根据所述起始扫描位置,初始化所述雷达。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取所述雷达对绕所述雷达螺旋式排列的多个反射板进行旋转扫描的过程中所述激光器对应的点云数据,包括:

控制所述雷达绕所述雷达螺旋式排列的多个反射板进行旋转扫描;

获取所述激光器对应的点云数据。

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个反射板上的测量点的所述角度、所述第二测量距离以及所述第二信号强度,拟合所述激光器的校准曲线,包括:

基于所述角度,从所述激光器对应的预设角度距离关系表中确定所述测量点的实际距离;

将所述测量点的第二测量距离和所述实际距离相减,计算所述第二测量距离的校准偏差;

记录每个所述测量点的目标坐标信息,所述目标坐标信息包括所述校准偏差、所述第二信号强度以及所述角度;

根据所述多个反射板上的测量点的所述目标坐标信息,拟合所述激光器的校准曲线。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个反射板上的测量点的所述目标坐标信息,拟合所述激光器的校准曲线,包括:

将每个所述测量点的第二信号强度作为横坐标,所述校准偏差作为纵坐标,拟合所述激光器的校准曲线。

7.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述校准曲线,计算所述激光器的校准函数,包括:

根据预设分段规则,将所述校准曲线进行分段;

计算每一校准曲线线段的分段校准函数,每个所述分段校准函数对应不同的信号强度区间;

将若干个分段校准函数作为所述激光器的校准函数。

8.一种雷达,其特征在于,包括:

至少一个激光器;

一个或多个处理器,与所述至少一个激光器电连接;

存储装置,用于存储一个或多个程序;

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1所述的雷达校准方法。

9.一种上位机,其特征在于,包括:

一个或多个处理器;

存储装置,用于存储一个或多个程序;

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求2-7任一项所述的雷达校准方法。

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