[发明专利]齿面波纹阶次检测方法

权利要求书

1.齿面波纹阶次检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，计算齿轮啮合线上关键展长位置；

S2，测量齿轮渐开线方向展长数据；

S3，计算展长误差；

S4，将每齿展长误差按基节进行搭接；

S5，取搭接数据的外包络；

S6，将外包络曲线进行傅里叶变换，得到齿面波纹阶次。

2.根据权利要求1所述的齿面波纹阶次检测方法，其特征在于，所述步骤S1中，齿轮啮合线上关键展长位置包括：

齿轮副开始啮合位置，齿轮副开始啮合位置为被动齿轮有效齿顶圆与啮合线焦点；

齿轮副终止啮合位置，齿轮副终止啮合位置为主动齿轮有效齿顶圆与啮合线焦点。

3.根据权利要求2所述的齿面波纹阶次检测方法，其特征在于：

齿轮副开始啮合位置点的展长AT₁采用以下计算式计算：

其中，a为齿轮副中心距，α_wt为啮合角，r_Na2为被动齿轮有效齿顶圆半径，r_b2为主动齿轮基圆半径；

齿轮副终止啮合位置点的展长BT₁采用以下计算式计算：

其中，r_Na1为主动发齿轮有效齿顶圆半径，r_b1为主动齿轮基圆半径。

4.根据权利要求1至3任意一项所述的齿面波纹阶次检测方法，其特征在于，所述步骤S2中，测量齿轮渐开线方向展长数据的过程如下：

将主动齿轮装夹到齿轮测量仪上，测量探针在每颗齿的齿宽中间位置选取一截面，从A点滑到B点，采集N个点，得到探针在k点的真实半径并计算真实展长长度

其中，为探针在第n颗齿上k点测量的真实半径，r_b1为主动齿轮基圆半径。

5.根据权利要求4所述的齿面波纹阶次检测方法，其特征在于，所述步骤S3中，所述展长误差为第n颗齿上不同点下真实展长长度与理论展长长度之间的展长误差error_n(k)

其中，n为第n颗齿，k为探针在第k个位置点，N为探针从A点滑到B点共采集的点数，为真实展长长度，AT₁为齿轮副开始啮合位置点的展长，BT₁为齿轮副终止啮合位置点的展长。

6.根据权利要求5所述的齿面波纹阶次检测方法，其特征在于，所述步骤S4中，将每颗齿上的有效数据按照基节进行错位，并且第一颗齿与最后一颗齿相接，得到所有齿轮展长误差矩阵E

其中，n为第n颗齿，M为主动齿轮齿数，k为探针在第k个位置点，N为探针从A点滑到C点共采集的点数，error_n(k)为每颗齿上展长误差，AT₁为齿轮副开始啮合位置点的展长，BT₁为齿轮副终止啮合位置点的展长，p_bt为主动齿轮基节。

7.根据权利要求6所述的齿面波纹阶次检测方法，其特征在于，所述步骤S5中，取齿轮展长误差矩阵每个位置下的所有齿的外包络值,左齿面展长误差矩阵每列取最大值，右齿面展长误差矩阵每列取最小值，得到C

其中，n为第n颗齿，k为探针在第k个位置点，N为探针从A点滑到C点共采集的点数，E_n为所有齿轮展长误差矩阵，AT₁为齿轮副开始啮合位置点的展长，BT₁为齿轮副终止啮合位置点的展₃长，p_bt为主动齿轮基节。

8.根据权利要求7所述的齿面波纹阶次检测方法，其特征在于，将外包络曲线进行傅里叶变换，得到齿面波纹的阶次特征G(ω)

其中，n为第n颗齿，N为探针从A点滑到C点共采集的点数，k为探针在第k个位置点，FFT为快速傅里叶变换，C为每个位置下的所有齿的外包络值，AT₁为齿轮副开始啮合位置点的展长，BT₁为齿轮副终止啮合位置点的展长，p_bt为主动齿轮基节。