[发明专利]标定误差的评估方法、装置、计算机设备及存储介质在审
申请号: | 202111538453.6 | 申请日: | 2021-12-15 |
公开(公告)号: | CN114494448A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 刘锋;李明阳 | 申请(专利权)人: | 北京罗克维尔斯科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/80 | 分类号: | G06T7/80;G06T17/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 孙诗惠 |
地址: | 101300 北京市顺义区高丽营*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 标定 误差 评估 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.一种标定误差的评估方法,其特征在于,包括:
获取位于同一直线上的多个第一参考点和多个第二参考点在第一坐标系中的初始坐标,其中,所述第一参考点位于第一相机的拍摄范围内,所述第二参考点位于第二相机的拍摄范围内;
根据每个所述第一参考点的初始坐标及所述第一相机的标定参数,确定多个所述第一参考点在第二坐标系中对应的第一拟合直线;
根据每个所述第二参考点的初始坐标及所述第二相机的标定参数,确定多个所述第二参考点在第二坐标系中对应的第二拟合直线;
根据所述第一拟合直线的斜率与所述第二拟合直线的斜率,确定标定误差是否满足要求。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据每个所述第一参考点的初始坐标及所述第一相机的标定参数,确定多个所述第一参考点在第二坐标系中对应的第一拟合直线,包括:
根据每个所述第一参考点的初始坐标及所述第一相机的标定参数,确定每个所述第一参考点在第二坐标系中的第一投影坐标;
对多个所述第一投影坐标进行直线拟合,以获取所述第一拟合直线。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据每个所述第一参考点的初始坐标及所述第一相机的标定参数,确定每个所述第一参考点在第二坐标系中的第一投影坐标,包括:
获取所述第一相机采集的第一原始图像;
对所述第一原始图像进行畸变矫正,以获取第一矫正图像;
根据每个所述第一参考点的初始坐标及所述第一相机的标定参数,确定每个所述第一参考点在所述第一矫正图像上的标定坐标,以根据所述标定坐标在所述第一矫正图像中对每个所述第一参考点进行标记;
根据所述第一相机的标定参数,将所述第一矫正图像变换为所述第二坐标系中的第一俯瞰图;
根据所述第一俯瞰图中的每个所述第一参考点的标记,确定每个所述第一参考点的投影坐标。
4.如权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一拟合直线的斜率与所述第二拟合直线的斜率,确定标定误差是否满足要求,包括:
响应于所述第一拟合直线的斜率与所述第二拟合直线的斜率的差值大于第一设定阈值,确定所述标定误差未满足要求;
响应于所述第一拟合直线的斜率与所述第二拟合直线的斜率的差值小于等于第一设定阈值,确定所述标定误差满足要求。
5.如权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一拟合直线的斜率与所述第二拟合直线的斜率,确定标定误差是否满足要求,包括:
响应于所述第一拟合直线的斜率与所述第二拟合直线的斜率的差值大于第一设定阈值,确定所述标定误差未满足要求;
响应于所述第一拟合直线的斜率与所述第二拟合直线的斜率的差值小于等于第一设定阈值,
根据所述第一拟合直线的斜率,对所述第二拟合直线进行重新拟合,以获取与所述第一拟合直线平行的第三拟合直线;
响应于所述第一拟合直线与所述第三拟合直线间的距离大于第二设定阈值,确定所述标定误差未满足要求;
响应于所述第一拟合直线与所述第三拟合直线间的距离小于等于第二设定阈值,确定所述标定误差满足要求。
6.一种环视系统标定误差的评估方法,其特征在于,包括:
采用如权利要求1-5任一所述方法,确定环视系统中每个相机的标定误差是否满足要求;
响应于任一所述标定误差未满足要求,确定所述环视系统标定失败;
响应于每个所述标定误差均满足要求,确定所述环视系统标定成功。
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