[发明专利]一种红外温度计辅助校准组件以及室温校准方法

权利要求书

1.一种红外温度计室温校准方法，温度计与辅助校准组件通讯连接形成校准系统，辅助校准组件包括温度检测件，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、校准系统进入校准模式，在一定的室温温度条件下，通过温度检测件获取当前环境的实际室温温度以及校准模式下温度检测件的adc数值；

步骤2、温度计(1)获取校准模式下温度检测件的adc数值，并将校准模式下温度检测件的adc数值代入校准参数计算公式，获得校准参数；

步骤3、根据实际室温温度，查表获得实际室温温度对应的电阻值数据；

步骤4、温度计(1)将校准参数以及实际室温温度对应的电阻值数据代入温度计算公式，获得检测温度。

2.根据权利要求1所述的红外温度计室温校准方法，其特征在于：步骤2中，校准参数计算公式为：

Js＝V/(0.56+(V-0.56*Jadc)/Jadc)；

其中，Js为校准参数，V为温度检测件的满量程adc数值，Jadc为校准模式下温度检测件的adc数值。

3.根据权利要求1所述的红外温度计室温校准方法，其特征在于：步骤3中，通过实际室温温度在温度电阻对照表中查找实际室温温度对应的电阻值数据。

4.根据权利要求1所述的红外温度计室温校准方法，其特征在于：步骤4中，温度计算公式为：

Rj＝Lut(Tj)；

Rntc＝(V-0.56*Js)*Yadc*Rj/(Js*(V-0.56*Yadc))；

Tamb＝Lut(Rntc)；

其中，Tj为校准模式下的实际室温温度，Lut(Tj)为依据实际室温温度查表获得对应的电阻值，Rj为校准模式下实际室温温度对应的电阻值，Rntc为运行模式下温度检测件的电阻值，Yadc为运行模式下温度检测件的adc数值，Lut(Rntc)为依据运行模式下温度检测件的电阻值查表获得对应的温度，Tamb为温度计(1)的检测温度。

5.根据权利要求1所述的红外温度计室温校准方法，其特征在于：步骤1中，一定的室温温度条件为10℃-30℃。

6.一种使用所述权利要求1-5任一项所述的红外温度计室温校准方法的辅助校准组件，其特征在于：包括用于获取当前环境的实际室温温度的温度检测件。

7.根据权利要求6所述的辅助校准组件，其特征在于：温度检测件与嵌入式微控制器(2)相连，嵌入式微控制器(2)用于检测温度检测件的adc数值，温度检测件获取到当前环境的实际室温温度后将实际室温温度传输至嵌入式微控制器(2)中。

8.根据权利要求7所述的辅助校准组件，其特征在于：嵌入式微控制器(2)与温度计(1)通过通讯接口(3)相连，嵌入式微控制器(2)通过通讯接口(3)向温度计(1)传输温度检测件的adc数值以及实际室温温度。

9.根据权利要求6所述的辅助校准组件，其特征在于：温度检测件包括SHT20温湿度传感器(4)、PT100温度传感器(5)。

10.根据权利要求7所述的辅助校准组件，其特征在于：还包括与嵌入式微控制器(2)相连的显示件(6)以及按键(7)。