[发明专利]一种红外温度计辅助校准组件以及室温校准方法

说明书

本发明提供一种红外温度计室温校准方法，温度计与辅助校准组件通讯连接形成校准系统，辅助校准组件包括温度检测件，包括以下步骤：校准系统进入校准模式，在一定的室温温度条件下，通过温度检测件获取当前环境的实际室温温度以及校准模式下温度检测件的adc数值；温度计获取校准模式下温度检测件的adc数值，并将校准模式下温度检测件的adc数值代入校准参数计算公式，获得校准参数；根据实际室温温度，查表获得实际室温温度对应的电阻值数据；温度计将校准参数以及实际室温温度对应的电阻值数据代入温度计算公式，获得检测温度；本发明增加了温度计进行室温温度校准的便捷性以及效率，降低了温度计进行室温温度校准的成本。

技术领域

本发明涉及温度计领域，尤其是涉及一种红外温度计辅助校准组件以及室温校准方法。

背景技术

由于红外温度计在出厂或正常使用过程中，需要进行环境温度的校准，通常情况需要将红外温度计放入恒温房或浸入恒温水槽来对红外温度计进行环境温度的校准。

其中，将红外温度计放入恒温房进行校准时，由于人员进出空气对流等原因，环境温度依旧存在波动问题，室温校准难以准确，并且恒温房设备购置及维护的成本高昂企业无法承担；而将红外温度计侵入水槽时，需要将红外温度计部分主体及探头侵入水槽液当中保持20分钟以上，并且需要对红外温度计套上一层防水膜，这种方式比较繁琐难以批量快速生产。

发明内容

本发明的目的在于提供一种增加温度计进行室温温度校准的便捷性以及效率、降低温度计进行室温温度校准成本的红外温度计辅助校准组件以及室温校准方法。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种红外温度计室温校准方法，温度计与辅助校准组件通讯连接形成校准系统，辅助校准组件包括温度检测件，包括以下步骤：

步骤1、校准系统进入校准模式，在一定的室温温度条件下，通过温度检测件获取当前环境的实际室温温度以及校准模式下温度检测件的adc数值；

步骤2、温度计获取校准模式下温度检测件的adc数值，并将校准模式下温度检测件的adc数值代入校准参数计算公式，获得校准参数；

步骤3、根据实际室温温度，查表获得实际室温温度对应的电阻值数据；

步骤4、温度计将校准参数以及实际室温温度对应的电阻值数据代入温度计算公式，获得检测温度。

进一步的，步骤2中，校准参数计算公式为：

Js＝V/(0.56+(V-0.56*Jadc)/Jadc)；

其中，Js为校准参数，V为温度检测件的满量程adc数值，Jadc为校准模式下温度检测件的adc数值。

进一步的，步骤3中，通过实际室温温度在温度电阻对照表中查找实际室温温度对应的电阻值数据。

进一步的，步骤4中，温度计算公式为：

Rj＝Lut(Tj)；

Rntc＝(V-0.56*Js)*Yadc*Rj/(Js*(V-0.56*Yadc))；

Tamb＝Lut(Rntc)；

其中，Tj为校准模式下的实际室温温度，Lut(Tj)为依据实际室温温度查表获得对应的电阻值，Rj为校准模式下实际室温温度对应的电阻值，Rntc为运行模式下温度检测件的电阻值，Yadc为运行模式下温度检测件的adc数值，Lut(Rntc)为依据运行模式下温度检测件的电阻值查表获得对应的温度，Tamb为温度计的检测温度。

进一步的，步骤1中，一定的室温温度条件为10℃-30℃。

本发明还公开了一种使用红外温度计室温校准方法的辅助校准组件，包括用于获取当前环境的实际室温温度的温度检测件。