[发明专利]一种DAC电路测试方法及系统

权利要求书

1.一种DAC电路测试方法，应用于DAC电路测试装置，所述DAC电路测试装置连接待测DAC电路，用于向待测DAC电路发送基准电压和数字信号，并接收待测DAC电路发送的模拟信号；其特征在于，包括：

接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；

将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值，所述信号偏差值与实时模拟信号一一对应；

获取预设基准电压范围，并根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；

根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；

对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。

2.根据权利要求1所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述接收待测DAC电路输出的实时模拟信号的步骤包括：

所述DAC电路测试装置包括控制器；

所述控制器连接待测DAC电路；

所述控制器将预设基准电压和预设数字信号发送给待测DAC电路；

所述控制器接收待测DAC电路接收到预设基准电压和预设数字信号后得到的实时模拟信号。

3.根据权利要求1所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值的步骤包括，对所述实时模拟信号和标准模拟信号进行做差计算后得到信号偏差值。

4.根据权利要求1所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号的步骤包括：

所述基准电压范围中包含多个基准电压；

将多个基准电压分别输入DAC电路测试装置得到多个标准模拟信号；

将多个基准电压分别输入待测DAC电路得到多个实时模拟信号。

5.根据权利要求4所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量的步骤包括：

根据多个实时模拟信号得到实时模拟信号的实时变化量；

根据多个标准模拟信号得到标准模拟信号的标准变化量；

根据实时模拟信号的实时变化量和标准模拟信号的标准变化量进行计算后得到多个信号偏差值的变化量。

6.根据权利要求5所述的DAC电路测试服方法，其特征在于，所述对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果的步骤包括：

根据基准电压范围得到标准模拟信号范围和实时模拟信号范围；

根据标准模拟信号范围、实时模拟信号范围、实时模拟信号的变化量与标准模拟信号的变化量进行筛选后得到标准电压范围；

所述检测结果包括标准电压范围。

7.根据权利要求1所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果的步骤包括：

将所述信号偏差值与预设的偏差范围值进行比较；

判断所述信号偏差值是否落在偏差范围值内；

若是，则输出转换准确提示信息；

若否，则输出转换不准确提示信息；

所述检测结果包括转换准确提示信息和转换不准确提示信息。

8.一种DAC电路测试系统，其特征在于，包括：

接收模块（1），用于接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；

比较模块（2），用于将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值；

获取模块（3），用于获取预设基准电压范围，并根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；

分析模块（4），用于根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；

判断模块（5），用于对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。