[发明专利]一种DAC电路测试方法及系统

说明书

本申请涉及一种DAC电路测试方法及系统，其属于电路测试领域，其中，该方法应用于DAC电路测试装置，DAC电路测试装置连接待测DAC电路，用于向待测DAC电路发送基准电压和数字信号，并接收待测DAC电路发送的模拟信号；包括接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；将实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值，信号偏差值与实时模拟信号一一对应；根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。本申请具有实现了测试DAC电路转换准确性的效果。

技术领域

本申请涉及电路测试领域，尤其是涉及一种DAC电路测试方法及系统。

背景技术

DAC是数模转换器的简称，数模转换器是指将离散的数字信号转换为连续的模拟信号的器件或电路；在射频收发机中，数模转换器一般用于发射机前端，将数字给出的模拟信号的数字表达心是个转换成辐射的模拟信号。

参考图1，DAC一般包括基准电压源模块、二进制开关模块、加权网络模块和输出放大器；其中，基准电压源模块用于给DAC提供一个稳定且准确的电压VREF，然后二进制开关模块和加权网络模块根据需要转换的数字码D及基准电压VREF产生D*VREF，然后输出放大器提供额外的增益k及稳定的驱动能力。

在使用上述DAC的过程中，发明人发现，利用DAC可以实现数字信号和模拟信号之间的转换，但是有时候根据数字信号得到的模拟信号与预期的模拟信号相差较大，说明DAC的转换准确性较差，因此检测DAC的转换准确性是很有必要的。

发明内容

本申请提供一种DAC电路测试方法及系统，具有实现了检测DAC的转换准确性的特点。

本申请目的一是提供一种DAC电路测试方法。

本申请的上述申请目的一是通过以下技术方案得以实现的：

一种DAC电路测试方法，应用于DAC电路测试装置，所述DAC电路测试装置连接待测DAC电路，用于向待测DAC电路发送基准电压和数字信号，并接收待测DAC电路发送的模拟信号；包括：

接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；

将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值，所述信号偏差值与实时模拟信号一一对应；

获取预设基准电压范围，并根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；

根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；

对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。

通过采用上述技术方案，接收待测DAC电路输出的模拟信号，然后将该模拟信号与标准模拟信号进行比较得到信号偏差值，通过信号偏差值可以判断待测DAC电路的转换准确性；然后再对与预设基准电压范围相应的多个信号偏差值进行分析后得到多个信号偏差值的变化量，通过变化量可以分析后在预设基准电压范围内，待测DAC电路对实时模拟信号的转换准确性。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为，所述接收待测DAC电路输出的实时模拟信号的步骤包括：

所述DAC电路测试装置包括控制器；

所述控制器连接待测DAC电路；

所述控制器将预设基准电压和预设数字信号发送给待测DAC电路；

所述控制器接收待测DAC电路接收到预设基准电压和预设数字信号后得到的实时模拟信号。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值的步骤包括，对所述实时模拟信号和标准模拟信号进行做差计算后得到信号偏差值。