[发明专利]根据电阻初值利用自动印刷台制备厚膜基片电阻层的方法在审

专利信息
申请号: 202111582027.2 申请日: 2021-12-22
公开(公告)号: CN114242362A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 程梦莲;白艳;刘智慧;苏全振;马建军 申请(专利权)人: 锦州七七七微电子有限责任公司
主分类号: H01C17/065 分类号: H01C17/065
代理公司: 锦州辽西专利事务所(普通合伙) 21225 代理人: 王佳佳
地址: 121001 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 根据 电阻 初值 利用 自动 印刷 制备 厚膜基片 方法
【权利要求书】:

1.一种根据电阻初值利用自动印刷台制备厚膜基片电阻层的方法,其特征是:

具体步骤如下:

(1)确定印刷速度

根据每组电阻的电阻值选取对应方阻的浆料,设计出方数为1的标准方块电阻,印刷所需方阻浆料,调整速度参数使该方块电阻烧成值与浆料标称值基本一致。

设计标准方块电阻时,首先,设计标准方块电阻的理论长度和理论宽度,当预设计电阻中存在一个与标准方块电阻相同电阻值的方块电阻时,则按照该方块电阻的面积,设计标准方块电阻的理论长度、理论宽度;

然后根据设计的标准方块电阻的理论长度、理论宽度,印刷对应方阻的浆料,确定印刷速度,使印刷的标准方块电阻干膜厚度符合工艺要求(20±5)μm;

(2)根据步骤(1)的印刷速度设计其他电阻方数的电阻,记为预设计电阻;

设计预设计电阻时,首先比较预设计电阻与标准方块电阻的面积,①当预设计电阻与标准方块电阻面积相差<1倍时,按照理论值设计电阻的长度和宽度,理论电阻值R=n R=L/W×R,n为方块电阻的方数,L为预设计电阻长度,W为预设计电阻宽度,R为方块电阻的电阻值;②当标准方块电阻与预设计电阻面积相差≥1倍时,a.当预设计电阻面积≥标准方块电阻面积,按照预设计电阻的理论设计长度和理论设计宽度比值缩小20%~30%;b.当预设计电阻面积≤标准方块电阻面积,按照预设计电阻的理论设计长度和理论设计宽度比值增大20%~30%。

2.根据权利要求1所述的根据电阻初值利用自动印刷台制备厚膜基片电阻层的方法,其特征是:设计标准方块电阻的理论长度、理论宽度时,理论长度、理论宽度分别为1mm。

3.根据权利要求1所述的根据电阻初值利用自动印刷台制备厚膜基片电阻层的方法,其特征是:设计标准方块电阻的理论长度、理论宽度时,当预设计电阻中存在多个与标准方块电阻相同电阻值的方块电阻时,该电阻值存在面积为1mm2的方块电阻,则设计标准方块电阻的理论长度、理论宽度分别为1mm,不存在面积为1mm2的方块电阻,根据该电阻值最小面积的方块电阻设计标准方块电阻的理论长度、理论宽度;设计电阻中不存在与标准方块电阻相同电阻值的方块电阻时,设计标准方块电阻的理论长度、理论宽度分别为1mm。

4.根据权利要求1所述的根据电阻初值利用自动印刷台制备厚膜基片电阻层的方法,其特征是:步骤(1)确定印刷速度是,印刷速度在(50±10)㎜/s范围内调整。

5.根据权利要求1所述的根据电阻初值利用自动印刷台制备厚膜基片电阻层的方法,其特征是:确定印刷速度时,以50㎜/s为基准速度,获得基准速度的电阻值,根据公式计算速度调整变量△S:△S=(目标电阻的电阻值-基准速度的电阻值)/基准速度的电阻值×40,然后,最终按照以下公式确定印刷速度S:S=S0+△S其中,△S为速度变量,S0为基准速度。

6.根据权利要求1所述的根据电阻初值利用自动印刷台制备厚膜基片电阻层的方法,其特征是:步骤(2)当预设计电阻与标准方块电阻面积相差<1倍时,以标准方块电阻宽度为基础,作为预设计电阻宽度。

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