[发明专利]测试数据生成方法、装置、电子设备及介质

说明书

本公开涉及数据处理技术领域，提供了测试数据生成方法、装置、电子设备及介质。该方法包括：基于原始数据和数据生成模型，生成初始测试数据；基于当次的随机变异处理方式，对初始测试数据进行变异处理，得到当次的变异数据；将当次的变异数据导入数据判断模型，得到当次的判断结果；将当次的变异数据确定为扩展测试数据。本公开实施例通过上述步骤，可以得到原有数据集范围外的数据，继而可以用于检测出未发现的漏洞，或者其他适用于扩大原有数据范围的应用，大大增加了本公开的适用范围。

技术领域

本公开涉及数据处理技术领域，尤其涉及测试数据生成方法、装置、电子设备及介质。

背景技术

随着科技的日益发展，测试数据的需求越来越大。以工业控制系统的模糊测试为例，由于需要用到大量的测试用例，用以判断测试对象是否有漏洞，因此测试用例的优劣直接决定模糊测试的性能。现有技术中，有使用生成数据模型生成数据模型，使用数据判断模型判断数据并得到测试用例的方法，但此种生成方式不能跳出原有数据的范围，不能检测出未发现的漏洞，导致准确性较低。

发明内容

有鉴于此，本公开实施例提供了测试数据生成方法、装置、电子设备及介质，以解决现有技术中由于现有技术生成的测试用例不能跳出原有数据的范围，不能检测出未发现的漏洞，导致准确性较低的问题。

本公开实施例的第一方面，提供了一种测试数据生成方法，包括：基于原始数据和数据生成模型，生成初始测试数据；基于当次的随机变异处理方式，对初始测试数据进行变异处理，得到当次的变异数据；将当次的变异数据导入数据判断模型，得到当次的判断结果；若当次的判断结果表示通过，将当次的变异数据确定为扩展测试数据。

本公开实施例的第二方面，提供了一种测试数据生成装置，包括：生成模块，被配置为基于原始数据和数据生成模型，生成初始测试数据；处理模块，被配置为基于当次的随机变异处理方式，对初始测试数据进行变异处理，得到当次的变异数据；导入模块，被配置为将当次的变异数据导入数据判断模型，得到当次的判断结果；确定模块，被配置为若当次的判断结果表示通过，将当次的变异数据确定为扩展测试数据。

本公开实施例的第三方面，提供了一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器中并且可以在处理器上运行的计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述方法的步骤。

本公开实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

本公开实施例与现有技术相比存在的有益效果至少包括：通过基于原始数据和数据生成模型，生成初始测试数据；将初始测试数据进行随机变异处理，得到变异数据，可以得到原有数据集范围外的数据，继而可以用于检测出未发现的漏洞，或者其他适用于扩大原有数据范围的应用，大大增加了本公开的适用范围。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是根据本公开实施例提供的测试数据生成方法的一个应场景的示意图；

图2是根据本公开实施例提供的一种测试数据生成方法的一些实施例的流程图；

图3是根据本公开实施例提供的另一种测试数据生成方法的另一些实施例的流程图；

图4是根据本公开实施例提供的一种测试数据生成装置的结构示意图；

图5是根据本公开实施例提供的电子设备的示意图。

具体实施方式