[发明专利]提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202111598375.9 申请日: 2021-12-24
公开(公告)号: CN114253786A 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 陈道华;赵军委;王伟良 申请(专利权)人: 深圳忆联信息系统有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G11C29/08;G11C29/56
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 李燕娥
地址: 518067 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 提高 固态 硬盘 功能 测试 效率 方法 装置 设备 介质
【权利要求书】:

1.提高固态硬盘功能测试效率的方法,所述固态硬盘包括内存颗粒和闪存颗粒,其特征在于,所述方法包括:

执行内存颗粒的数据模型的保持测试;

在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试;

当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦读写测试,且判断正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试是否完成;

若正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试已完成,则进入下一轮的内存颗粒的数据模型的保持测试。

2.根据权利要求1所述的提高固态硬盘功能测试效率的方法,其特征在于,所述的执行内存颗粒的数据模型的保持测试,具体包括:

设定数据模型的保持测试所需的参数,所述参数包括写入时间、刷新周期和数据保持时长;

选择需进行测试的数据模型;

对达到数据保持时长要求的数据模型与之前写入的数据模型进行对比校验,以确认数据的正确性;

将校验结果数据进行保存。

3.根据权利要求1所述的提高固态硬盘功能测试效率的方法,其特征在于,所述数据保持时长为25分钟-40分钟。

4.根据权利要求1所述的提高固态硬盘功能测试效率的方法,其特征在于,所述的执行闪存颗粒的数据擦读写测试,具体包括:

擦除闪存颗粒的所有地址中的数据;

将擦除后的所有地址中写满数据;

读取所有地址中的数据并确认数据的正确性;

将校验结果数据进行保存。

5.提高固态硬盘功能测试效率的装置,其特征在于,所述固态硬盘包括内存颗粒和闪存颗粒,所述装置包括第一执行单元、第二执行单元、判断单元以及第三执行单元;

所述第一执行单元,用于执行内存颗粒的数据模型的保持测试;

所述第二执行单元,用于在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试;

所述判断单元,用于当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦读写测试,且判断正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试是否完成;

所述第三执行单元,用于若正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试已完成,则进入下一轮的内存颗粒的数据模型的保持测试。

6.根据权利要求5所述的提高固态硬盘功能测试效率的装置,其特征在于,所述第一执行单元包括设定模块、选择模块、对比校验模块以及第一保存模块;

所述设定模块,用于设定数据模型的保持测试所需的参数,所述参数包括写入时间、刷新周期和数据保持时长;

所述选择模块,用于选择需进行测试的数据模型;

所述对比校验模块,用于对达到数据保持时长要求的数据模型与之前写入的数据模型进行对比校验,以确认数据的正确性;

所述第一保存模块,用于将校验结果数据进行保存。

7.根据权利要求5所述的提高固态硬盘功能测试效率的装置,其特征在于,所述数据保持时长为25分钟-40分钟。

8.根据权利要求5所述的提高固态硬盘功能测试效率的装置,其特征在于,所述第二执行单元包括擦除模块、写入模块、读取模块以及第二保存模块;

所述擦除模块,用于擦除闪存颗粒的所有地址中的数据;

所述写入模块,用于将擦除后的所有地址中写满数据;

所述读取模块,用于读取所有地址中的数据并确认数据的正确性;

所述第二保存模块,用于将校验结果数据进行保存。

9.一种计算机设备,其特征在于,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1~4中任意一项所述的提高固态硬盘功能测试效率的方法步骤。

10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1~4任意一项所述的提高固态硬盘功能测试效率的方法步骤。

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