[发明专利]提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质

说明书

本发明实施例公开了一种提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质，其中方法包括:执行内存颗粒的数据模型的保持测试；在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试；当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦读写测试，且判断正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试是否完成；若正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试已完成，则进入下一轮的内存颗粒的数据模型的保持测试。本发明提升了测试效率，降低了整体测试所需的时间。

技术领域

本发明涉及固态硬盘，更具体地说是一种提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质。

背景技术

在SSD(固态硬盘)测试过程中一般采用逐一测试的方法来确认SOC(控制器),DDR(内存颗粒),NAND Flash(闪存颗粒)的功能，随着产品容量越来越大，DDR(内存颗粒)的测试时间越来越长，一般512M DDR(内存颗粒)完成一次全地址的Pattern测试(不同数据模型测试)需2分钟左右，如果等待时间30分钟来测试DDR的数据保持能力，执行10个Pattern的Retention测试需要6小时以上，测试时间长，测试效率低。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

第一方面，提高固态硬盘功能测试效率的方法，所述固态硬盘包括内存颗粒和闪存颗粒，所述方法包括：

执行内存颗粒的数据模型的保持测试；

在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试；

当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦读写测试，且判断正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试是否完成；

若正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试已完成，则进入下一轮的内存颗粒的数据模型的保持测试。

其进一步技术方案为：所述的执行内存颗粒的数据模型的保持测试，具体包括：

设定数据模型的保持测试所需的参数，所述参数包括写入时间、刷新周期和数据保持时长；

选择需进行测试的数据模型；

对达到数据保持时长要求的数据模型与之前写入的数据模型进行对比校验，以确认数据的正确性；

将校验结果数据进行保存。

其进一步技术方案为：所述数据保持时长为25分钟-40分钟。

其进一步技术方案为：所述的执行闪存颗粒的数据擦读写测试，具体包括：

擦除闪存颗粒的所有地址中的数据；

将擦除后的所有地址中写满数据；

读取所有地址中的数据并确认数据的正确性；

将校验结果数据进行保存。

第二方面，提高固态硬盘功能测试效率的装置，所述固态硬盘包括内存颗粒和闪存颗粒，所述装置包括第一执行单元、第二执行单元、判断单元以及第三执行单元；

所述第一执行单元，用于执行内存颗粒的数据模型的保持测试；

所述第二执行单元，用于在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试；

所述判断单元，用于当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦读写测试，且判断正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试是否完成；