[发明专利]显示面板的调试方法及调试设备有效
申请号: | 202111599487.6 | 申请日: | 2021-12-24 |
公开(公告)号: | CN114333722B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 邱彬;康报虹 | 申请(专利权)人: | 重庆惠科金渝光电科技有限公司;惠科股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 张庆玲 |
地址: | 401320 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 调试 方法 设备 | ||
1.一种显示面板的调试方法,其特征在于,所述显示面板的调试方法包括:
获取待调试面板每个子像素的显示亮度;
计算所述待调试面板的每个子像素的显示亮度与标准显示亮度的亮度差值;
利用每个所述子像素的所述亮度差值计算所述待调试面板的标准偏差值;
判断所述标准偏差值是否大于预设偏差值;
若所述标准偏差值大于预设偏差值,则对所述子像素的显示亮度进行调整。
2.根据权利要求1所述的显示面板的调试方法,其特征在于,所述利用每个所述子像素的所述差值计算所述待调试面板的标准偏差值的步骤,包括:
利用公式计算所述标准偏差值;
其中,N为所述待调试面板的子像素个数,Xi为第i个所述子像素的显示亮度与所述标准显示亮度的亮度差值,为所有所述子像素的平均亮度差值。
3.根据权利要求1所述的显示面板的调试方法,其特征在于,所述对所述子像素的显示亮度进行调整的步骤,包括:
利用时序控制器调整所述子像素的时钟信号,以调整所述子像素的充电时间。
4.根据权利要求3所述的显示面板的调试方法,其特征在于,
若所述子像素的显示亮度低于所述待调试面板的平均亮度,则增加所述子像素的充电时间。
5.根据权利要求3所述的显示面板调试方法,其特征在于,
若所述待调试面板的奇行的所述亮度差值与偶行的所述亮度差值的差距大,则通过时序控制器调整所述奇行/所述偶行的时钟脉冲的宽度,以调整所述奇行/所述偶行的充电时间。
6.根据权利要求3所述的显示面板的调试方法,其特征在于,
若所述待调试面板的奇行的所述亮度差值与偶行的所述亮度差值的差距大,则对较暗的所述奇行/所述偶行进行过充,以增加所述奇行/所述偶行的充电时间。
7.根据权利要求1所述的显示面板的调试方法,其特征在于,所述对所述子像素的显示亮度进行调整的步骤之后,包括:
选取目标矩阵,并获取所述目标矩阵的平均显示亮度;
获取所述平均显示亮度与所述标准显示亮度的差值;
判断所述差值是否大于预设差值;
若大于,则提高所述目标矩阵中的所述子像素的显示亮度。
8.根据权利要求7所述的显示面板的调试方法,其特征在于,所述提高所述目标矩阵中的所述子像素的显示亮度的步骤,包括:
依次对所述目标矩阵的所有子像素的显示亮度进行调整,直至所有所述子像素的显示亮度达到所述标准显示亮度;
所述提高所述目标矩阵中的所述子像素的显示亮度的步骤之后,包括:
选取下一目标矩阵,并对所述下一目标矩阵进行调试。
9.根据权利要求1所述的显示面板的调试方法,其特征在于,所述判断所述标准偏差值是否大于预设偏差值的步骤之后,还包括:
若所述标准偏差值不大于预设偏差值,则不对所述子像素的显示亮度进行调整。
10.一种显示面板的调试设备,其特征在于,所述显示面板的调试设备包括:
获取单元,获取待调试面板每个子像素的显示亮度;
第一计算单元,计算所述待调试面板的每个所述子像素的显示亮度与标准显示亮度的亮度差值;
第二计算单元,利用每个所述子像素的所述亮度差值计算所述待调试面板的标准偏差值;
判断单元,判断所述标准偏差值是否大于预设偏差值;
调试单元,在所述标准偏差值大于预设偏差值时,对所述子像素的显示亮度进行调整。
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