[发明专利]显示面板的调试方法及调试设备有效
申请号: | 202111599487.6 | 申请日: | 2021-12-24 |
公开(公告)号: | CN114333722B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 邱彬;康报虹 | 申请(专利权)人: | 重庆惠科金渝光电科技有限公司;惠科股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 张庆玲 |
地址: | 401320 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 调试 方法 设备 | ||
本申请公开了显示面板的调试方法及调试设备,其中,显示面板的调试方法包括:获取待调试面板每个子像素的显示亮度;计算待调试面板的每个子像素的显示亮度与标准显示亮度的亮度差值;利用每个子像素的亮度差值计算待调试面板的标准偏差值;判断标准偏差值是否大于预设偏差值;若标准偏差值大于预设偏差值,则对子像素的显示亮度进行调整。通过上述方法,改善了显示面板的亮暗不均等问题。
技术领域
本发明涉及显示面板领域,特别是涉及显示面板的调试方法及调试设备。
背景技术
随着显示技术的发展,液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点,而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品,成为显示装置中的主流。
现有的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器,其包括壳体、设于壳体内的液晶面板及设于壳体内的背光模组。通常液晶面板由一彩色滤光片(ColorFilter,CF)基板、一薄膜晶体管阵列基板(ThinFilmTransistorArraySubstrate,TFTArraySubstrate)以及一填充于两基板间的液晶层(LiquidCrystalLayer)所构成,其工作原理是通过在CF基板和TFT基板上施加驱动电压来控制液晶层的液晶分子的旋转,控制光的输出量,将背光模组的光线折射出来产生画面。通常液晶显示面板其成型工艺一般包括:阵列基板(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、彩膜基板制程、成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)。
在液晶显示面板制作完成之后,由于制程工艺的限制,各个液晶显示面板均会产生不同程度的亮度不均匀(灰阶mura)现象,为了补偿液晶显示面板的灰阶mura,现有技术会通过一相机拍摄的液晶显示面板在不同灰阶下显示画面,并根据该显示画面的亮暗差异,得出一灰阶补偿数据,并将该灰阶补偿数据存储在闪存器(Flash)中,时序控制器(TconIC)上电后会先通过灰阶补偿数据对待显示的灰阶数据进行补偿,然后再输出补偿后的灰阶数据进行画面显示,从而提高液晶显示面板的亮暗均一性。但是现有技术都是通过人眼来判断显示面板是否出现亮暗不均现象,而人眼的识别度并不够高,并且长时间判断也会出现擦错,依然会使显示面板出现亮暗不均的现象。
发明内容
本申请主要解决的技术问题是提供一种显示面板的调试方法及调试设备,以解决显示面板出现亮暗不均的现象等问题。
为解决上述问题,本申请提供了一种显示面板的调试方法,所述显示面板调试方法包括:获取待调试面板每个子像素的显示亮度;计算所述待调试面板的每个子像素的显示亮度与标准显示亮度的亮度差值;利用每个所述子像素的所述亮度差值计算所述待调试面板的标准偏差值;判断所述标准偏差是否大于预设偏差值;若所述标准偏差值大于预设偏差值,则对所述子像素的显示亮度进行调整。
因此,获取每个子像素的显示亮度,然后根据每个子像素的显示亮度得到每个子像素与标准显示亮度的亮度差值,然后根据每个子像素的亮度差值的规律对每个子像素的显示亮度进行调整。
优选的,所述利用每个所述子像素的所述差值计算所述待调试面板的标准偏差值的步骤,包括:利用公式计算所述标准偏差值;其中,N为所述待调试面板的子像素个数,Xi为第i个所述子像素的显示亮度与所述标准显示亮度的亮度差值,为所有所述子像素的平均亮度差值。
因此,通过公式计算得到待调试面板中每个子像素的显示亮度与待调试面板的平均显示亮度的标准偏差值,若标准偏差值大,则说明待调试面板出现亮暗显示不均的问题,需要对待调试面板的亮暗显示均匀进行调整,若标准偏差值小,则说明待调试面板的亮暗显示比较均匀,不需要进行亮暗均匀性调整。
优选的,所述对所述子像素的显示亮度进行调整的步骤,包括:利用时序控制器调整所述子像素的时钟信号,以调整所述子像素的充电时间。
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