[发明专利]8英寸硅抛光片边缘T型轮廓加工用倒角磨削工装及方法在审

专利信息
申请号: 202111608317.X 申请日: 2021-12-24
公开(公告)号: CN114260784A 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 安瑞阳;苏冰;李军营;李攀;刘鹏亮;蔡丽艳 申请(专利权)人: 山东有研半导体材料有限公司;有研半导体硅材料股份公司
主分类号: B24B9/06 分类号: B24B9/06;B24B41/06
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 刘秀青
地址: 253012 山东省德州市经济技术开发区袁桥*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 英寸 抛光 边缘 轮廓 工用 倒角 磨削 工装 方法
【说明书】:

发明公开了一种8英寸硅抛光片边缘T型轮廓加工用倒角磨削工装及方法。工装包括铝质基体、开设在铝质基体中央位置的装配孔、设置在铝质基体外周上的磨削区,在该磨削区嵌刻有多个T型磨削槽,所述T型磨削槽的内径从磨削槽口至顶端逐渐变小,整体呈弧形形状,该弧形形状与硅抛光片倒角的目标形状相同。方法包括以下步骤:(1)根据8英寸硅抛光片边缘T型轮廓要求,设计工装磨削槽;(2)通过装配孔将工装安装在硅抛光片边缘倒角加工专用设备上;(3)对8英寸薄硅抛光片边缘进行磨削加工,得到符合要求的T型边缘轮廓。本发明可实现8英寸薄硅抛光片边缘T型轮廓的精确加工,加工精度高、重复性好,效率更高。

技术领域

本发明涉及一种8英寸硅抛光片边缘T型轮廓加工用倒角磨削工装及方法,属于抛光片边缘轮廓加工技术领域。

背景技术

半导体硅材料的发展趋势是硅抛光片厚度越来越薄,8英寸硅抛光片目前是国内市场的主流产品,尤其是8英寸区熔片(FZ)的单片成本非常大,而且因片薄而大,边缘加工时可接受机械外力大大降低。为了降低加工损失,提高加工效率,需要对现有的T型边缘轮廓加工工装和T型边缘轮廓加工方法进行改进和创新。

现有T型边缘轮廓倒角工装特点是磨削槽宽,这样就带来两个问题:(1)抛光片边缘轮廓倒角工装的厚度是一定的,磨削槽宽导致工装上能够容纳的磨削槽数量较少;磨削槽数量少,再加之磨削槽寿命限制,进而造成单个工装的加工产品的总数量会下降,抬高了生产加工成本。(2)磨削槽宽,对于边缘轮廓加工设备的精度和稳定性要求更高,进而增加了设备维护和维修成本。

现有T型边缘轮廓加工方法特点:(1)一个完整的T型边缘轮廓需要单侧多次加工:先加工薄抛光片边缘上半侧轮廓,再加工薄抛光片边缘下半侧轮廓,即一个完整轮廓至少需要加工两次。而对于8英寸薄抛光片来说,边缘轮廓加工至少分为粗加工和精加工两步,也就意味着加工完成一片薄抛光片的T型轮廓,至少需要加工4次,效率极低;(2)如上述(1)所述,其单侧多次加工方法带来的是抛光片边缘单侧受力,对于较厚的抛光片边缘来说,影响可以忽略,但是对于薄抛光片,单侧受力带来了极大地裂片风险。

发明内容

本发明的目的在于提供一种8英寸硅抛光片边缘T型轮廓加工用倒角磨削工装及方法,以有效提高薄抛光片边缘T型轮廓加工的生产效率,降低薄抛光片边缘T型轮廓加工的裂片风险。

为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:

本发明提供一种8英寸硅抛光片边缘T型轮廓加工用倒角磨削工装,包括铝质基体、开设在铝质基体中央位置的装配孔、设置在铝质基体外周上的磨削区,在该磨削区嵌刻有多个T型磨削槽,所述T型磨削槽的内径从磨削槽口至顶端逐渐变小,整体呈弧形形状,该弧形形状与硅抛光片倒角的目标形状相同。

优选地,所述T型磨削槽的深度即从磨削槽口至内周面顶端的距离为700-1200μm。

优选地,所述多个T型磨削槽的宽度尺寸不同,适用于不同厚度的硅抛光片边缘倒角加工。

优选地,所述T型磨削槽为人造金刚石与金属结合剂混合而成的耐磨材料层。

优选地,所述多个T型磨削槽内周面的目数规格不同,适用不同阶段的倒角加工。

优选地,所述T型磨削槽的槽口宽度即在硅抛光片厚度方向上的尺寸为600-1200μm,适用于厚度为400-450μm的薄抛光片边缘T型轮廓加工。

相应地,本发明还提供一种使用所述的工装对8英寸硅抛光片进行边缘T型轮廓加工的方法,包括以下步骤:

(1)根据8英寸硅抛光片边缘T型轮廓要求,设计工装磨削槽,根据抛光片厚度来设计磨削槽宽度;

(2)通过装配孔将工装安装在硅抛光片边缘倒角加工专用设备上;

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