[发明专利]芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

确定芯片中时钟门控单元的目标使能端的目标寄存器；

基于多个所述目标寄存器组合得到目标扫描链；

通过所述目标扫描链上多个所述目标寄存器的设定值，生成目标使能信号；

通过所述目标使能信号，控制所述时钟门控单元中所述目标使能端对应的目标时钟门控单元开启或关闭。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定芯片中的时钟门控单元的目标使能端的目标寄存器，包括：

选择所述芯片中所述时钟门控单元的目标使能端；

基于所述目标使能端的目标信号，在所述芯片中插入目标触发器；

基于多个所述目标触发器组合，确定出目标寄存器。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述选择所述芯片中所述时钟门控单元的目标使能端，包括：

将逻辑情况满足测试需求的所述时钟门控单元的门控使能端或所述时钟门控单元的测试使能端，设为所述目标使能端。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于多个所述目标寄存器组合得到目标扫描链，包括：

获取多个所述目标寄存器的组合顺序；

基于所述组合顺序将多个所述目标寄存器组合为所述目标扫描链。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述目标扫描链上多个所述目标寄存器的设定值，生成目标使能信号，包括：

在所述目标扫描链插入所述芯片后，对所述芯片进行向量测试；

在产生测试向量时，基于约束需求控制所述目标扫描链上的多个所述目标寄存器的比特值，得到所述设定值；

基于所述设定值生成对应的所述目标使能信号，其中，所述目标使能信号包括高电平信号和低电平信号。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述通过所述目标使能信号，控制所述时钟门控单元中所述目标使能端对应的目标时钟门控单元开启或关闭，包括：

通过所述目标使能信号中的所述高电平信号和所述低电平信号，控制所述时钟门控单元中所述目标使能端对应的所述目标时钟门控单元开启或关闭；

其中，所述高电平信号控制所述目标时钟门控单元开启，所述低电平信号控制所述目标时钟门控单元关闭。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定芯片中的时钟门控单元的目标使能端的目标寄存器之前，所述方法还包括：

对所述芯片的寄存器传输级进行逻辑综合操作，以将所述寄存器传输级转换为所述时钟门控单元；

将所述时钟门控单元插入所述芯片。

8.一种芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括：

确定模块，用于确定芯片中时钟门控单元的目标使能端的目标寄存器；

组合模块，用于基于多个所述目标寄存器组合得到目标扫描链；

生成模块，用于通过所述目标扫描链上多个所述目标寄存器的设定值，生成目标使能信号；

控制模块，用于通过所述目标使能信号，控制所述时钟门控单元中所述目标使能端对应的目标时钟门控单元开启或关闭。

9.一种芯片测试机，其特征在于，所述芯片测试机中包括存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器运行所述程序指令时，执行权利要求1-7中任一项所述方法中的步骤。

10.一种计算机可读取存储介质，其特征在于，所述可读取存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器运行时，执行权利要求1-7任一项所述方法中的步骤。