[发明专利]一种测量装置及测量系统在审

专利信息
申请号: 202111616243.4 申请日: 2021-12-27
公开(公告)号: CN114325319A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 李明军;刘延迪;王奇之;李晶;郑永丰 申请(专利权)人: 北京航天测控技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 代理人: 韩月玲
地址: 100041 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种测量装置,其特征在于,包括:矢量源、开关矩阵、信号分离装置和接收机;

所述矢量源连接所述开关矩阵,所述开关矩阵分别与所述信号分离装置、所述接收机和待测件连接;

所述矢量源,用于通过所述开关矩阵为所述信号分离装置提供测量的激励信号;

所述信号分离装置,用于基于所述激励信号产生入射信号、反射信号和传输信号,并将所述入射信号、所述反射信号和所述传输信号进行分离,分别测量所述入射信号的第一参数、所述反射信号的第一参数和所述传输信号的第一参数;

所述接收机,用于通过所述开关矩阵获取所述信号分离装置产生的所述入射信号、所述反射信号和所述传输信号,对所述入射信号的第一参数、所述反射信号的低参数和所述传输信号的第一参数进行处理,得到所述入射信号的第二参数、所述反射信号的第二参数和所述传输信号的第二参数,并通过所述入射信号的第二参数、所述反射信号的第二参数和所述传输信号的第二参数得到测量结果;

所述开关矩阵,用于在控制端作用下对所述激励信号、所述入射信号、所述反射信号和所述传输信号的路径进行选择。

2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述信号分离装置的第一端口通过所述开关矩阵连接所述待测件的第一端口,所述信号分离装置的第二端口通过所述开关矩阵连接所述待测件的第二端口;

所述信号分离装置用于基于所述激励信号产生入射信号,通过所述开关矩阵将所述入射信号输入所述接收机;通过所述开关矩阵将所述入射信号输入所述待测件的第一端口,以及,通过所述开关矩阵从所述待测件的第一端口采集获得所述反射信号,并通过所述开关矩阵从所述待测件的第二端口采集获得所述传输信号。

3.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述开关矩阵包括:第一开关、第二开关、第三开关、第四开关和第五开关;

所述接收机包括:第一接收机和第二接收机;

所述信号分离装置包括:第一信号耦合电路和第二信号耦合电路;

所述第一开关的第一端连接所述矢量源,所述第一开关的第二端连接所述第一信号耦合电路的第一I/O端,所述第一开关的第三端连接所述第二信号耦合电路的第一I/O端;所述第一开关的第一端在所述第一开关的控制端作用下与所述第一开关的第二端或所述第一开关的第三端导通;

所述第二开关的第一端连接所述第一接收机,所述第二开关的第二端连接所述第一信号耦合电路的第二I/O端,所述第二开关的第三端连接所述第三开关的第二端;所述第二开关的第一端在所述第二开关的控制端作用下与所述第二开关的第二端或所述第二开关的第三端导通;

所述第三开关的第一端连接所述第四开关的第一端,所述第三开关的第三端连接所述第五开关的第二端;所述第三开关的第一端在所述第三开关的控制端作用下与所述第三开关的第二端或所述第三开关的第三端导通;

所述第四开关的第二端连接所述第一信号耦合电路的第三I/O端,所述第四开关的第三端连接所述第二信号耦合电路的第三I/O端;所述第四开关的第一端在所述第四开关的控制端作用下与所述第四开关的第二端或所述第四开关的第三端导通;

所述第五开关的第一端连接所述第二接收机,所述第五开关的第三端连接所述第二信号耦合电路的第二I/O端;所述第五开关的第一端在所述第五开关的控制端作用下与所述第五开关的第二端或所述第五开关的第三端导通;

所述第一信号耦合电路的第四I/O端作为所述信号分离装置的第一端口;

所述第二信号耦合电路的第四I/O端作为所述信号分离装置的第二端口。

4.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述开关矩阵还包括:第一控制开关和第二控制开关;

所述第一控制开关的公共端连接所述第一信号耦合电路的第四I/O端;所述第一控制开关的I/O端连接所述待测件的I/O端;

所述第二控制开关的公共端连接所述第二信号耦合电路的第四I/O端;所述第二控制开关的I/O端连接所述待测件的I/O端。

5.根据权利要求4所述的测量装置,其特征在于,所述第一控制开关和所述第二控制开关分别为四选一开关。

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