[发明专利]基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法在审
申请号: | 202111619407.9 | 申请日: | 2021-12-27 |
公开(公告)号: | CN114239318A | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 黄大荣;高铭;赵宁;张宇;张振源;许子仪;李芸倩 | 申请(专利权)人: | 重庆交通大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F119/02 |
代理公司: | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人: | 黄河 |
地址: | 402247 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 bit 装备 可靠性 测试 协同 优化 方法 | ||
1.基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:构建用于反映BIT特性的BIT特性模型;
S2:基于BIT特性模型和BIT设计,构建对应的可靠性模型;
S3:基于BIT特性模型和BIT设计,构建对应的测试性模型;
S4:将装备的可靠性约束条件以及可靠性参数代入可靠性模型,计算BIT数量;
S5:将BIT数量以及测试性参数代入测试性模型,计算装备测试性指标优化值,并基于装备测试性指标优化值实现装备可靠性与测试性的协同优化。
2.如权利要求1所述的基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法,其特征在于,步骤S1中,BIT特性模型包括:
λB=a2n;
式中:λBD表示带BIT的装备在单位时间内发生的由BIT诊断出的平均故障数;a1表示单个BIT在单位时间内诊断出的平均故障数,即单个BIT的平均故障诊断能力;n表示BIT数量;λS表示装备在单位时间内发生的平均故障数,即装备故障率;λB表示BIT在单位时间内发生的平均故障数,即BIT故障率;λD表示不带BIT的装备在单位时间内诊断出的平均故障数;a2表示单个BIT在单位时间内发生的平均故障数,即单个BIT的平均故障率。
3.如权利要求2所述的基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法,其特征在于,步骤S2中,可靠性模型表示为:
式中:MTBFS表示不带BIT的装备平均故障间隔时间;MTBFSB表示带BIT的装备平均故障间隔时间。
4.如权利要求3所述的基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法,其特征在于,步骤S2中,将BIT特性模型λB=a2n代入可靠性模型,得到反映协同优化前后装备可靠性指标变化的转换模型:
此时,MTBFS表示协同优化前装备的可靠性指标;MTBFSB表示协同优化后装备的可靠性指标。
5.如权利要求4所述的基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法,其特征在于,步骤S2中,MTBFS与协同优化前装备的可靠度RS之间的关系表示为
MTBFSB与协同优化后装备的可靠度RSB之间的关系表示为
式中:tm表示装备的持续工作时间。
6.如权利要求5所述的基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法,其特征在于,步骤S3中,测试性模型表示为:
式中:γDB表示不带BIT的装备故障诊断率;γD表示带BIT的装备故障诊断率。
7.如权利要求6所述的基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法,其特征在于,步骤S3中,将BIT特性模型和λB=a2n代入测试性模型,得到反映协同优化前后装备测试性指标变化的转换模型:
此时,γD表示协同优化前装备的测试性指标;γDB表示协同优化后装备的测试性指标。
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