[发明专利]基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法

说明书

本发明涉及可靠性与测试性协同优化技术领域，具体涉及基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法，包括：构建用于反映BIT特性的BIT特性模型；基于BIT特性模型和BIT设计，构建对应的可靠性模型；基于BIT特性模型和BIT设计，构建对应的测试性模型；将装备的可靠性约束条件以及可靠性参数代入可靠性模型，计算BIT数量；将BIT数量以及测试性参数代入测试性模型，计算装备测试性指标优化值，并基于装备测试性指标优化值实现装备可靠性与测试性的协同优化。本发明的装备可靠性与测试性协同优化方法，能够充分考虑BIT设计对装备可靠性与测试性的利弊影响，从而能够提升装备可靠性与测试性协同优化的效果。

技术领域

本发明涉及可靠性与测试性协同优化技术领域，具体涉及基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法。

背景技术

可靠性是指装备(产品)在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力。但一个装备的可靠性再高也无法永远正常工作，使用者和维护者要掌握其健康状况，要确知有无故障或何处发生了故障，因此需要对其进行监控和测试，这就涉及到了测试性。测试性是装备能及时准确的确定其状态(包括可工作、不可工作或性能下降程度)，并隔离其内部故障的一种设计特性。可靠性与测试性均是装备的重要质量特性，且无论技术还是在管理，装备的测试性都与可靠性有着密切的关系。

因此，有必要建立一种装备可靠性与测试性的协同优化方法，以协调装备的可靠性与测试性设计，为发展装备的综合性能分析提供客观科学的依据。公开号为CN112733433A的中国专利公开了《一种装备测试性策略优化方法和装置》其方法包括：获取测试种群，测试种群包括多个用于对装备进行测试的测试集；基于测试种群确定装备的测试代价、基本可靠性代价和测试性性能效益；将测试代价和基本可靠性代价作为第一约束参数，将测试性性能效益作为第一测试指标构建第一测试性优化模型；将测试代价、基本可靠性代价和测试性性能效益作为第二约束参数，将装备综合效益作为第二测试指标构建第二测试性优化模型；基于第一测试性优化模型和第二测试性优化模型采用适应度函数进行测试性策略优化计算。

上述现有方案中的装备测试性策略优化方法通过基本可靠性代价和测试性性能效益构建测试性优化模型，在一定程度上考虑了可靠性与测试性的协同优化问题。但是，装备测试性设计的核心是BIT(机内测试)设计，BIT可以增强装备的故障诊断能力，提高装备的任务可靠性，但BIT自身会发生故障，从而会降低装备的基本可靠性。然而，现有的可靠性与测试性协同优化方法未考虑BIT特性对装备可靠性与测试性的利弊影响，导致装备可靠性与测试性协同优化的准确性和全面性均不好。因此，如何设计一种能够考虑BIT设计对装备可靠性与测试性利弊影响的装备可靠性与测试性协同优化方法是亟需解决的技术问题。

发明内容

针对上述现有技术的不足，本发明所要解决的技术问题是：如何提供一种基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法，以能够充分考虑BIT设计对装备可靠性与测试性的利弊影响，从而提升装备可靠性与测试性协同优化的效果。

为了解决上述技术问题，本发明采用了如下的技术方案：

基于BIT的装备可靠性与测试性协同优化方法，包括以下步骤：

S1：构建用于反映BIT特性的BIT特性模型；

S2：基于BIT特性模型和BIT设计，构建对应的可靠性模型；

S3：基于BIT特性模型和BIT设计，构建对应的测试性模型；

S4：将装备的可靠性约束条件以及可靠性参数代入可靠性模型，计算BIT数量；

S5：将BIT数量以及测试性参数代入测试性模型，计算装备测试性指标优化值，并基于装备测试性指标优化值实现装备可靠性与测试性的协同优化。

优选的，步骤S1中，BIT特性模型包括：