[发明专利]一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架

说明书

本发明实施例涉及一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架，包括：移动终端、闪存测试装置和多个测试连接端；移动终端用于操控闪存测试装置的运行；测试连接端用于与待测闪存存储设备连接；闪存测试装置用于对与每个测试连接端连接的待测闪存存储设备进行性能测试。该多功能闪存测试架通过在闪存测试装置上设置有与待测闪存存储设备的测试连接端，之后通过闪存测试装置对不同类型的待测闪存存储设备进行性能测试，实现对不同闪存芯片进行性能测试，与现有一种闪存芯片制作一种闪存测试架相比，能够减少生产厂家制作闪存测试架的成本，扩宽了该多功能闪存测试架测试产品的兼容性，使得该基于多个测试端口的多功能闪存测试架适用性更强。

技术领域

本发明涉及闪存测试技术领域，尤其涉及一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架。

背景技术

闪存的优势是大量数据存储的速度快，闪存测试架是一种用于测试闪存好坏、品质、寿命等指标的工具。除了以上功能，闪存测试架还可以作为闪存测速工具来使用。在企业欲采购一批闪存用于制作固态硬盘或者U盘等闪存式存储设备时，若有某一主控方案的闪存测试架则可以方便地对该种主控搭配各种闪存进行速度、稳定性和老化测试等，这是每个存储厂商进行测试流程过程中必不可少的工具。

闪存测试架目前大批量应用于生产存储产品的公司。在企业采购一批闪存用于制作固态硬盘或者U盘等闪存式存储设备时，需要先对购入的闪存使用测试架进行测试才可用于生产。闪存测试架主要测试对象是降级片、白片、黑片或二手拆机片。由于等级在93％容量以下的晶圆都不再打上原厂的标志销售，这些晶圆也不会扔掉，就流入封装厂或流到黑片市场成为黑片，尤其是QLC或TLC颗粒，它们每百万字节的生产成本是目前最低的，但是寿命短，且黑片的稳定性和良品率非常差，必须经测试方可使用。

目前在市面上均可以在各种渠道购买到闪存测试架，但是纵观整个市场，闪存测试架都有一些缺点：昂贵、主控和兼容性单一。例如在某网购网址可以查询到基于慧荣2256K的固态硬盘闪存测试架需要500元以上的价格，而基于银灿IS903的U盘闪存测试架也需要150元左右，这主要是因为大多数工厂对于闪存测试架都是自产自用，很少对外销售，这会使得很多电子DIY玩家和少数没有研发能力的厂家在生产存储产品时遇到困难，或者是增加很多不必要的成本。同时市面上的闪存测试架虽然种类繁多，但是他们的主控都是单一的，若某一厂家需要生产多种主控方案的存储设备，那么需要同时生产或购买对应各种方案的闪存测试架，增加成本。

发明内容

本发明实施例提供了一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架，用于解决现有闪存测试架发价格昂贵、主控和兼容性单一，不能提供普遍的适用性的技术问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架，包括移动终端、闪存测试装置和多个测试连接端，所述移动终端与所述闪存测试装置连接，多个所述测试连接端设置在所述闪存测试装置上；

所述移动终端，用于操控所述闪存测试装置的运行；

所述测试连接端，用于与待测闪存存储设备连接；

所述闪存测试装置，用于对与每个所述测试连接端连接的待测闪存存储设备进行性能测试；

其中，所述性能测试至少包括闪存速度、闪存稳定性和老化性能。

优选地，所述闪存测试装置包括控制板以及设置在所述控制板上的闪存测试电路，所述闪存测试电路包括与所述测试连接端连接的第一测试电路、第二测试电路和第三测试电路，所述第一测试电路通过连接接口分别与所述第二测试电路和所述第三测试电路连接，所述第一测试线路包括与所述测试连接端连接的控制芯片以及与所述控制芯片连接的GANG模块、SPI模块、供电模块和防护模块；

所述控制芯片，用于控制所述GANG模块、所述SPI模块和所述防护模块的运行；

所述GANG模块，用于检测所述控制芯片的状态；