[发明专利]频域介电谱曲线的校正方法、装置和计算机设备

说明书

本申请涉及一种频域介电谱曲线的校正方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述频域介电谱曲线的校正方法，包括：分别获取不同恒定温度下套管的介质损耗曲线的第一测试数据；根据所述第一测试数据，获取预设介电弛豫模型中多个特征参数值与温度之间的非线性关系；根据所述介电弛豫模型和所述非线性关系，获取时变温度下套管的介质损耗曲线的每个测试频点对应的等效温度；根据阿伦尼乌斯公式、所述测试频点与所述等效温度之间的对应关系，对时变温度下的频域介电谱曲线的频点进行平移校正。

技术领域

本申请涉及油纸绝缘技术领域，特别是涉及一种频域介电谱曲线的校正方法、装置和计算机设备。

背景技术

频域介电谱(Frequency Domain Spectroscopy，FDS)技术被广泛应用于油纸绝缘电力设备状态诊断中。但由于频域介电谱曲线在低频频段测试时间较长，测试过程中设备的温度往往处于动态变化之中，且现有的评估数据库是基于恒定温度频域介电谱曲线建立的，使用时变温度频域介电谱曲线进行绝缘状态评估的结果存在一定误差。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够将时变温度的频域介电谱曲线校正到恒定温度条件下的频域介电谱曲线的校正方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

一种频域介电谱曲线的校正方法，包括：

分别获取不同恒定温度下套管的介质损耗曲线的第一测试数据；

根据所述第一测试数据，获取预设介电弛豫模型中多个特征参数值与温度之间的非线性关系；

根据所述介电弛豫模型和所述非线性关系，获取时变温度下套管的介质损耗曲线的每个测试频点对应的等效温度；

根据阿伦尼乌斯公式、所述测试频点与所述等效温度之间的对应关系，对时变温度下的频域介电谱曲线的频点进行平移校正。

在其中一个实施例中，所述根据所述介电弛豫模型和所述非线性关系，获取时变温度下套管的介质损耗曲线的每个测试频点对应的等效温度，包括：

根据所述介电弛豫模型，分别获取复介电常数的实部和虚部的表达式；

根据所述非线性关系，通过最小二乘法对所述复介电常数的实部和虚部进行求解，以获取时变温度下套管的介质损耗曲线的每个测试频点对应的等效温度。

在其中一个实施例中，所述根据所述非线性关系，通过最小二乘法对所述复介电常数的实部和虚部进行求解前，还包括：

构建套管的等效缩比模型；

根据所述等效缩比模型进行热传导分析，以获取所述套管的散热方程，所述散热方程用于表征散热时间与套管内部的绝缘温度之间的关系。

在其中一个实施例中，所述根据所述非线性关系，通过最小二乘法对所述复介电常数的实部和虚部进行求解，包括：

根据所述散热方程获取目标时刻的仿真温度；

将所述仿真温度作为最小二乘法的初值，并基于所述初值通过最小二乘法对所述复介电常数的实部和虚部进行求解。

在其中一个实施例中，所述根据所述第一测试数据，获取预设介电弛豫模型中多个特征参数值与温度之间的非线性关系，包括：

根据所述第一测试数据，通过启发式算法获取介电弛豫模型中的多个特征参数值；

采用三次样条插值函数获取多个所述特征参数与温度之间的非线性关系。

在其中一个实施例中，还包括：

获取时变温度下套管的介质损耗曲线的第二测试数据；