[发明专利]运动检测方法、装置、电子设备和计算机介质

说明书

本公开涉及一种运动检测方法、装置、电子设备和计算机介质，应用于电子设备的运动检测方法包括：根据来自于基于微机械的传感器的第一检测信号，获取第二检测信号；根据电子设备中至少一个发热部件的发热干扰数据、以及第二检测信号，确定电子设备的运动数据。如此，通过考虑发热部件的发热干扰数据，可以减少热辐射和热传导对基于微机械的传感器的干扰，从而可以提高对于电子设备的运动检测精度，使电子设备的运动数据更加准确。

技术领域

本公开涉及智能设备技术领域，尤其涉及一种运动检测方法、装置、电子设备和计算机介质。

背景技术

相关技术中，微机械陀螺仪具有体积小、结构简单、灵敏度高等优点，在军民两用市场均具有较好的应用前景。

在手机中，微机械陀螺仪集成在印制电路板上，在手机工作的过程中微机械陀螺仪会产生检测误差，影响对手机的运动检测精度。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种运动检测方法、装置、电子设备和计算机介质。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种运动检测方法，应用于电子设备，所述方法包括：

根据来自于基于微机械的传感器的第一检测信号，获取第二检测信号；

根据所述电子设备中至少一个发热部件的发热干扰数据、以及所述第二检测信号，确定所述电子设备的运动数据。

可选地，所述发热部件的发热干扰数据通过以下方式确定：

若确定所述发热部件的干扰数据为周期性数据，则根据时域的所述第二检测信号进行频谱分析，得到所述发热部件的发热干扰数据。

可选地，所述发热部件的发热干扰数据包括第一干扰数值，所述根据时域的所述第二检测信号进行频谱分析，得到所述发热部件的发热干扰数据，包括：

将时域的所述第二检测信号进行频谱分析，得到频域的所述发热部件的第一干扰幅值；

根据频域的所述第一干扰幅值，确定时域的所述第一干扰数值。

可选地，所述发热部件的发热干扰数据包括第二干扰数值，所述根据时域的所述第二检测信号进行频谱分析，得到所述发热部件的发热干扰数据，包括：

根据时域的所述第二检测信号，确定所述电子设备在时域上的第一运动数据；

将时域的所述第一运动数据进行频谱分析，得到频域的所述发热部件的第二干扰幅值；

根据频域的所述第二干扰幅值，确定时域的所述第二干扰数值。

可选地，所述发热部件的发热干扰数据通过以下方式确定：

根据所述发热部件的当前输入功率、以及预设的所述发热部件的输入功率与所述发热部件的发热干扰数据的对应关系，确定所述发热部件的发热干扰数据。

可选地，所述发热部件的发热干扰数据包括所述发热部件的第一干扰数值，所述根据所述电子设备中至少一个发热部件的发热干扰数据、以及所述第二检测信号，确定所述电子设备的运动数据，包括：

根据所述发热部件的所述第一干扰数值对所述第二检测信号进行修正；

根据修正后的第二检测信号，确定所述电子设备的运动数据。

可选地，所述发热部件的发热干扰数据包括所述发热部件的第二干扰数值，所述根据所述电子设备中至少一个发热部件的发热干扰数据、以及所述第二检测信号，确定所述电子设备的运动数据，包括：

根据所述第二检测信号，确定所述电子设备的第一运动数据；

根据所述发热部件的第二干扰数值对所述第一运动数据进行修正，得到所述电子设备的第二运动数据。