[发明专利]一种晶圆手动贴胶的方法在审
申请号: | 202111627465.6 | 申请日: | 2021-12-28 |
公开(公告)号: | CN114284181A | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 叶顺闵;林伯璋;蔡孟霖;蘇政宏 | 申请(专利权)人: | 滁州钰顺企业管理咨询合伙企业(有限合伙) |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 北京七夏专利代理事务所(普通合伙) 11632 | 代理人: | 刘毓珍 |
地址: | 239200 安徽省滁*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 手动 方法 | ||
1.一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,包含如下步骤:
提供晶圆,该晶圆具有集成电路的正面与背面,将晶圆放置于一个压平台上并使用一个固定胶将其撕开包覆该晶圆,接着使用一个压平杆将固定胶所包覆的晶圆完整压平包覆,再将包覆后的晶圆使用切割件去除多余的固定胶。
2.根据权利要求1所述的一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,晶圆贴胶包覆方式可适用于厚度2mil以上之晶圆产品;晶圆贴胶包覆尺寸可适用12in以下产品。
3.根据权利要求1所述的一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,使用固定胶时,该固定胶包括可撕开与合覆的双层结构,底层为粘附层并于四周及外缘设有数个定位点,上层为上胶层且该层四周及外缘设有数个撕胶点。
4.根据权利要求1所述的一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,该压平台材质可为玻璃或为不锈钢及不易残留碎屑中的任意一种。
5.根据权利要求1所述的一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,该压平杆设有一手把部且该手把部上设有压平件用于压平。
6.根据权利要求3所述的一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,将该固定胶上、下层剥离约1-3cm,并将上层胶外缘的撕胶点往内卷折使之无法重新粘附于粘附层,以使该粘附层外缘的定位点可供固定胶上下撕除剥离的作用。
7.根据权利要求6所述的一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,将该固定胶上下层剥离约1-3cm,接续将粘附层外缘之定位点裁剪1-2cm,使得固定胶上下层重新覆合时,使上胶层无法完全粘附接合,以便于能够顺利粘附于压平台。
8.根据权利要求7所述的一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,粘附层所设的定位点可依照尺寸设于上下左右或外缘全部;该上胶层所设的撕胶点可依照尺寸设于上下左右或外缘全部。
9.根据权利要求1所述的一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,该晶圆为背面朝下正面朝上贴胶作业;该固定胶使用时为上胶层朝上粘附层朝下;该压平台上设有一个固定件可在使用时固定住固定胶。
10.根据权利要求15所述的一种晶圆手动贴胶的方法,其特征在于,该固定件可依压平台之设计变化各种形式以达到固定的作用。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造