[发明专利]智能设备的异常检测方法、装置、电子装置和存储介质

说明书

本申请涉及一种智能设备的异常检测方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该智能设备的异常检测方法包括：获取待检测数据，其中，待检测数据为目标智能设备在预设时间内采集的原始数据，对待检测数据进行同类型智能分析，得到目标智能设备的第一智能分析结果，在根据第一智能分析结果，确定目标智能设备存在智能异常的情况下，对目标智能设备的智能异常进行上报。其利用同类型智能分析实现了对目标智能设备所采集原始数据的检测，从而能够避免对目标智能设备产生智能数据的时间点的依赖，进而能够主动甄别目标智能设备产生的智能数据是否正常，提高智能设备的异常检测结果的准确度。

技术领域

本申请涉及相机运维领域，特别是涉及智能设备的异常检测方法、装置、电子装置和存储介质。

背景技术

随着科学技术水平的提升，和社会经济的快速发展，智能设备的应用市场不断扩张，渗透进生产生活的各个方面。在智能设备应用数量的增长过程中，对智能设备的定期运维所产生的工作量也随之变大。为了解决对智能设备进行智能异常检测所存在的耗时耗力的问题，目前，往往是被动接收智能设备在特定时间内产生的智能数据来判断智能设备的智能功能是否存在异常。该种方式依赖于智能设备产生智能数据的时间点，无法主动甄别智能设备产生的智能数据是否正常。

针对相关技术中存在无法主动甄别智能设备产生的智能数据是否正常的问题，目前还没有提出有效的解决方案。

发明内容

在本实施例中提供了一种智能设备的异常检测方法、装置、电子装置和存储介质，以解决相关技术中存在无法主动甄别智能设备产生的智能数据是否正常的问题。

第一个方面，在本实施例中提供了一种智能设备的异常检测方法，包括：

获取待检测数据；其中，所述待检测数据为目标智能设备在预设时间内采集的原始数据；

对所述待检测数据进行同类型智能分析，得到所述目标智能设备的第一智能分析结果；

在根据所述第一智能分析结果，确定所述目标智能设备存在智能异常的情况下，对所述目标智能设备的智能异常进行上报。

在其中的一些实施例中，所述获取待检测数据，包括：

在所述目标智能设备在检测时间点基于自身的智能算法产生了检测智能数据的情况下，获取所述检测智能数据对应的原始数据，得到待检测数据。

在其中的一些实施例中，在对所述待检测数据进行同类型智能分析，得到所述目标智能设备的第一智能分析结果之后，还包括：

在所述检测智能数据的检测对象数量超出所述第一智能分析结果中检测对象数量预设阈值的情况下，针对智能事件触发时间，对所述检测智能数据和所述第一智能分析结果进行匹配，判断是否存在匹配失败的检测智能数据；

若是，则对匹配失败的检测智能数据所对应的待检测数据进行二次同类型智能分析，若所述二次同类型智能分析的结果与所述第一智能分析结果一致，则确定所述目标智能设备存在误报异常。

在其中的一些实施例中，在对所述待检测数据进行同类型智能分析，得到所述目标智能设备的第一智能分析结果之后，还包括：

在所述检测智能数据的检测对象数量低于所述第一智能分析结果中检测对象数量预设阈值的情况下，针对智能事件触发时间，对所述检测智能数据和所述第一智能分析结果进行匹配，判断所述第一智能分析结果中是否存在匹配失败的智能数据；

若是，则对所述第一智能分析结果中匹配失败的智能数据对应的待检测数据进行二次同类型智能分析，若所述二次同类型智能分析的结果与所述第一智能分析结果一致，则确定所述目标智能设备存在漏报异常。

在其中的一些实施例中，在对所述待检测数据进行同类型智能分析，得到所述目标智能设备的第一智能分析结果之后，还包括：