[发明专利]一种辐照实验线不均匀度优化方法

权利要求书

1.一种辐照实验线不均匀度优化方法，其特征在于：包括如下方法步骤：

步骤1，待辐照产品满载装箱；

步骤2，装箱后确定基本参数；

步骤3，确定待辐照箱体在托箱中的装载方式：单元辐照箱体依次组合，托箱内待辐照箱体的宽度方向为单元辐照箱体的长度组合叠加，长度方向为辐照箱体宽度，高度方向为辐照箱体高度，辐照托箱进入辐照室的方向为待辐照箱体长度方向；

步骤4，待辐照箱体层次划分：以辐照箱体最先进入辐照室的高度方向的边线的最低位置为坐标原点，以辐照箱体宽度方向为X轴，长度方向为Y轴，高度方向为Z轴，在辐照箱体满载时，将整个辐照箱体内的产品在X轴方向等距分割若干等份，依次编号，在Y轴方向等距分割若干等份，依次编号，在Z轴方向等距分割若干等份，依次编号，在X、Y、Z轴等分线的交叉点处设置剂量计点位，坐标点表示为“XYZ”；

步骤5，在上述步骤4确认好的剂量计点位上放置剂量计，同时准备每个剂量计位点的换位剂量计纸板，即在纸板上粘贴剂量计；

步骤6，确认钴源活度并设定辐照时间；

步骤7，每次辐照结束后对剂量计进行换位再次进行辐照，换位方式包括同层互换及上、下层及间隔层排列组合互换；

步骤8，辐照结束，剂量计测量并获取数据，得到最优的剂量计放置位点以优化辐照均匀度。

2.根据权利要求1所述的一种辐照实验线不均匀度优化方法，其特征在于：所述的基本参数包括：单元辐照箱体长度、宽度及高度；单箱毛重、产品密度、装载密度及材质。

3.根据权利要求1所述的一种辐照实验线不均匀度优化方法，其特征在于：步骤4中，设“XYZ”为“1,0,1”，表示的是，X轴方向的“1”面、Y轴方向的“0”面、Z轴方向的“1”面，三面相交的交叉点，当辐照箱体进入辐射场时，在第一路径中X轴方向“0”面最接近辐射源；辐照箱体Y轴方向的“0”面位置首先接受到辐射源的照射，即列向点位0最先接受到辐射源的照射。

4.根据权利要求1所述的一种辐照实验线不均匀度优化方法，其特征在于：所使用的剂量计为Harwell4034剂量计。