[发明专利]一种辐照实验线不均匀度优化方法在审

专利信息
申请号: 202111644023.2 申请日: 2021-12-29
公开(公告)号: CN114355425A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 张智博;童好学;史诗 申请(专利权)人: 天津金鹏源辐照技术有限公司
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 代理人: 刘丹舟
地址: 300308 天津市滨海新区*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 辐照 实验 不均匀 优化 方法
【说明书】:

发明涉及一种辐照实验线不均匀度优化方法,优化地增加了待辐照箱体层次划分及剂量计分布位点换位步骤,本发明方法设计科学合理,通过在辐照托箱内对满载的待辐照箱进行坐标系建立,并确定剂量计布设位点,同时对各位点进行位置互换从而有效提高辐照均匀度,通过实验验证,不换位测试最低点位在245,剂量值为8.5KGy;最高点位在011,剂量值为16.88KGy;不均匀度为1.99;换位后,测试最低点位在100,剂量值为10.19KGy;最高点位在221,剂量值为13.39KGy;不均匀度为1.31。对于辐照不均匀度的研究具有重要的指导意义,适用于转化推广应用,为辐照产品均匀度的把控提供优化方法。

技术领域

本发明属于辐照加工领域,涉及产品辐照技术,尤其是一种辐照实验线不均匀度优化方 法。

背景技术

辐照是利用放射性元素的辐射去改变分子结构的一种化工技术,辐照加工技术作为一种 新兴的加工行业在食品、医疗、工业等领域有着广泛的应用。其中辐照均匀度这一参数尤为 重要,辐照的均匀度对产品质量有很大的影响,也是辐照效果的重要衡量指标。

现有的辐照均匀度的检测方式主要时通过剂量计的吸收计量来确定的,某产品辐照剂量 分布是指产品内各位点的吸收剂量的相对比值u=Di/Dj,其不均匀度(U)等于该批产品辐照吸 收剂量的最大值(Dmax)与最小值(Dminx)之比,即U=Dmax/Dmin。降低产品辐照剂量的不均匀度可以 提高辐照利用率且进一步指导辐照生产,故研发一种高效的降低辐照不均匀度的辐照方法具 有重要的应用价值。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足之处,提供一种高效的辐照实验线不均匀度优化 方法,通过实验验证能有效降低辐照产品的不均匀度,具有较大的实际转化应用价值。

本发明解决其技术问题是采取以下技术方案实现的:

一种辐照实验线不均匀度优化方法,包括如下方法步骤:

步骤1,待辐照产品满载装箱;

步骤2,装箱后确定基本参数:包括单元辐照箱体长度、宽度及高度;单箱毛重、产品 密度、装载密度及材质;

步骤3,确定待辐照箱体在托箱中的装载方式:单元辐照箱体依次组合,托箱内待辐照 箱体的宽度方向为单元辐照箱体的长度组合叠加,长度方向为辐照箱体宽度,高度方向为辐 照箱体高度,辐照托箱进入辐照室的方向为待辐照箱体长度方向;

步骤4,待辐照箱体层次划分:以辐照箱体最先进入辐照室的高度方向的边线的最低位 置为坐标原点(0,00,00),以辐照箱体宽度方向为X轴,长度方向为Y轴,高度方向为Z轴,在辐照箱体满载时,将整个辐照箱体内的产品在X轴方向等距分割若干等份,依次编号,在Y轴方向等距分割若干等份,依次编号,在Z轴方向等距分割若干等份,依次编号,在X、 Y、Z轴等分线的交叉点处设置剂量计点位,坐标点表示为“XYZ”,如“(1,0,1)”,表示 的是,X轴方向的“1”面、Y轴方向的“0”面、Z轴方向的“1”面,三面相交的交叉点, 当辐照箱体进入辐射场时,在第一路径中X轴方向“0”面最接近辐射源;辐照箱体Y轴方向 的“0”面位置首先接受到辐射源的照射(列向点位0最先接受到辐射源的照射);

步骤5,在上述步骤4确认好的剂量计点位上放置剂量计,同时准备每个剂量计位点的 换位剂量计纸板,即在纸板上粘贴剂量计,所使用的剂量计为Harwell4034剂量计;

步骤6,确认钴源活度并设定辐照时间;

步骤7,每次辐照结束后对剂量计进行换位再次进行辐照,换位方式包括同层互换及上、 下层及间隔层排列组合互换;

步骤8,辐照结束,剂量计测量并获取数据,得到最优的剂量计放置位点以优化辐照均 匀度。

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