[发明专利]激光测距系统在审

专利信息
申请号: 202111647714.8 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114355377A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 王茜茜;李洪鹏;张正杰;沈罗丰;王世玮 申请(专利权)人: 探维科技(北京)有限公司
主分类号: G01S17/48 分类号: G01S17/48;G01S7/481
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 邢少真
地址: 100192 北京市海淀区西小口路6*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 激光 测距 系统
【说明书】:

本申请是关于一种激光测距系统,属于激光测距技术领域。所述激光测距系统包括激光发射部、激光接收部、扫描镜和光反馈组件;所述扫描镜位于所述激光发射部的发射光路和所述激光接收部的接收光路上;当所述扫描镜在第一角度范围内旋转时,所述光反馈组件位于所述扫描镜的光路上,当所述扫描镜在第二角度范围内旋转时,待测量的目标位于所述扫描镜的光路上。采用本申请,可以提高激光测距系统的测量准确度。

技术领域

本申请是关于激光测距技术领域,尤其是关于一种激光测距系统。

背景技术

激光测距系统,是发射激光束来探测目标的系统,其工作原理是发射端向目标发射激光束,激光束遇到目标后反射至接收端,激光测距系统中的处理芯片根据发射端发射激光束的时间、接收端接收激光束的时间,以及激光的传播速度(即光速),可以计算出与目标之间的距离值。

接收端接收到激光束的时间,通常是处理芯片接收到信号的时间,如接收端接收到光信号时,将光信号转换为电信号,并对电信号进行一些处理后,发送至处理芯片,处理芯片将接收到电信号的时间记为接收端接收到光信号的时间,可见,该激光测距系统测出的距离值的准确度偏低。

发明内容

本申请提供了一种激光测距系统,能够克服相关技术中存在的激光测距系统测出的距离值的准确度偏低的问题。所述技术方案如下:

根据本申请,提供了一种激光测距系统,所述激光测距系统包括激光发射部、激光接收部、扫描镜和光反馈组件;

所述扫描镜位于所述激光发射部的发射光路和所述激光接收部的接收光路上;

当所述扫描镜在第一角度范围内旋转时,所述光反馈组件位于所述扫描镜的光路上,当所述扫描镜在第二角度范围内旋转时,待测量的目标位于所述扫描镜的光路上。

在一种可能的实施方式中,所述光反馈组件包括第一反光件和第二反光件;

所述激光发射部、所述扫描镜的第一部分和所述第一反光件位于同一侧,且所述第一部分位于所述激光发射部的发射光路上,所述第一反光件位于所述第一部分的反射光路上;

所述激光接收部、所述扫描镜的第二部分和所述第二反光件位于同一侧,且所述第二部分位于所述激光接收部的入射光路上,所述第二反光件位于所述第二部分的入射光路上,所述第二反光件位于所述第一反光件的反射光路上。

在一种可能的实施方式中,所述激光测距系统还包括挡光板,所述激光发射部、所述扫描镜的第一部分和所述第一反光件位于所述挡光板的一侧,所述激光接收部、所述扫描镜的第二部分和所述第二反光件位于所述挡光板的另一侧;

所述挡光板在对应所述第一反光件的反射光路的位置处具有通光孔。

在一种可能的实施方式中,所述挡光板包括旋转部和固定部,所述扫描镜穿过所述旋转部,且所述旋转部能随着所述扫描镜同步旋转。

在一种可能的实施方式中,所述第一反光件的反射面和所述第二反光件的反射面,呈镜面对称。

在一种可能的实施方式中,所述第一反光件的反射面的材质为镜面材质。

在一种可能的实施方式中,所述第二反光件的反射面的材质为漫反射材质。

在一种可能的实施方式中,所述第一反光件的反射面的面积,满足所述扫描镜的旋转角度范围在小于或等于5度,所述第一反光件能接收到所述扫描镜反射的激光。

在一种可能的实施方式中,所述第二反光件的反射面的面积不小于所述激光接收部的接收口径。

在一种可能的实施方式中,当所述扫描镜在第一角度范围内旋转时,所述光反馈组件位于所述扫描镜的第一反射面的光路上;

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