[发明专利]一种测定超高纯石墨材料元素杂质含量的设备及其方法

说明书

本发明涉及石墨检测技术领域，具体为一种测定超高纯石墨材料元素杂质含量的设备及其方法，设备包括质谱检测台，其特征在于，质谱检测台上设有第一测试区以及第二测试区，还包括；夹持机构，夹持机构可配合安置于第一测试区或第二测试区进行辉光质谱检测，夹持机构包括：样品座、底板、按压组件、样品套环以及旋转件；方法包括样品上料、循环运输、底面测试、顶面测试、旋转驱动工序以及样品取出的工序。通过第一测试区和第二测试区对夹持机构所夹持的样品的上下两面进行两次检测，增加检测的区域，使得测试的数据平均值更加准确，并且无需将夹持机构翻转测试，结构简单实用。

技术领域

本发明涉及样品含量检测设备技术领域，具体为一种测定超高纯石墨材料元素杂质含量的设备及其方法。

背景技术

随着材料科学的发展及高分子工业的实际需要，对高分子材料进行快速分析检测尤为重要。能够灵敏，快速，不需要任何样品预处理的检测方法也成为了高分子材料分析领域的迫切需要。

质谱仪器作为已知的最灵敏且应用范围最广的分析仪器之一，在科研、医疗、生产等方面都发挥着重要的作用，也是用于分析高分子材料的最有效工具之一。离子化源是质谱仪的重要组成部分，常用的离子源有电子轰击电离源(EI)、化学电离源(CI)、快原子轰击源(FAB)、辉光放电(GD)、电喷雾电离源(ESI)、基质辅助激光解析离子源(MALDI)等。这些不同性质的离子源可以按照不同的要求，针对不同的样品得到各种形式的准分子离子或其碎片离子。然而辉光放电方法需要一定的真空条件，通常只针对样品的一个面进行测试，此外，检测点也比较固定，无法对多个点位取点求平均值，计算精度不够高。

专利号为CN201921011425.7的专利文献公开了的一种辉光放电质谱仪及其样品定位装置，涉及质谱仪器技术领域。其中样品定位装置包括：定位装置本体，所述定位装置本体形成有用于安装测试用样品的安装腔，所述安装腔的底部形成有安装槽，所述安装槽的底部设置有贯穿所述定位装置本体的第一通孔；其中，所述安装槽包括若干用于安装样品的安装位，若干所述安装位配置为当样品固定于不同的安装位时，所述第一通孔对应所述样品的不同区域。还包括用于固定样品的定位块，所述定位块安装于所述安装腔内，用于将所述样品压装于所述安装槽内。

虽然该专利公开的一种辉光放电质谱仪及其样品定位装置，其需要对不同区域取样时需要人工重新安装，无法随时自动切换，且其仅能对样品的底部做测试，测试不够全面。

发明内容

针对以上问题，本发明的目的之一是提供了一种测定超高纯石墨材料元素杂质含量的设备，其通过第一测试区和第二测试区对夹持机构所夹持的样品的上下两面进行两次检测，增加检测的区域，使得测试的数据平均值更加准确，并且无需将夹持机构翻转测试，结构简单实用，解决了需要对不同区域取样时需要人工重新安装，无法随时自动切换，且其仅能对样品的底部做测试，测试不够全面的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种测定超高纯石墨材料元素杂质含量的设备，包括质谱检测台，其特征在于，所述质谱检测台上设有第一测试区以及第二测试区，还包括；

夹持机构，所述夹持机构可配合安置于所述第一测试区或第二测试区进行辉光质谱检测，所述夹持机构包括：样品座、底板、按压组件、样品套环以及旋转件，所述样品座的中部自上而下中空设置，所述底板通过螺钉连接于所述样品座的底部，所述样品套环内安装样品且由所述样品座中设置的所述按压组件按压抵触所述底板，所述旋转件套设于所述按压组件的外部且其驱动所述样品套环在所述样品座中作圆周运动。

作为改进，所述第一测试区包括开口竖直朝上设置的辉光发生器以及承载所述夹持机构的承载轨A，所述底板的中部设有第一通孔，所述夹持机构安置于所述承载轨A时，所述辉光发生器透过所述第一通孔对所述样品检测。