[发明专利]一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法

权利要求书

1.一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统，其特征在于，包括镀取单元、膜识单元、云储单元、处理器、镀分理单元、镀判处单元和镀警单元；

所述镀取单元用于实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据，并将实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据标定为实镀信息，并将实镀信息传输至膜识单元；

所述云储单元内存储有学镀膜机镀膜相关度的记膜信息，所述膜识单元用于从云储单元内获取记膜信息，并将记膜信息与实镀信息进行镀膜识别操作，将得到的膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据传输至处理器；

所述处理器用于对膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜耗数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据进行镀膜分理操作，将处理得到的膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同传输至镀判处单元；

所述镀判处单元用于对膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同进行镀膜判处操作，得到均匀信号和不均匀信号，并将均匀信号和不均匀信号传输至镀警单元；

所述镀警单元用于接收并显示均匀信号和不均匀信号，并发出对应的提示信号。

2.根据权利要求1所述的一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统，其特征在于，镀膜识别操作的具体操作过程为：

获取实影数据、膜图数据以及膜图数据对应的膜机名数据，将实影数据和膜图数据进行匹配，得到选取信号和采集信号；

提取选取信号和采集信号，并对选取信号和采集信号进行识别，当识别到采集信号时，则将其发送至镀取单元，镀取单元依据采集信号进行数据的再次采集，当识别到选取信号时，则依据膜图数据提取对应的膜机名数据，并依据膜机名数据提取对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据。

3.根据权利要求2所述的一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统，其特征在于，镀膜分理操作的具体操作过程为：

依据据膜机名数据，选取出对应的膜材数据，依据膜材数据选取出若干个对应的膜耗数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据；

提取若干个相同膜材数据对应的若干个膜厚数据，将若干个膜厚数据进行均值计算，计算出膜厚均值，将膜厚均值与若干个膜厚数据进行差值计算，从而计算出若干个膜厚差值，将若干个膜厚差值进行均值计算，计算出膜厚均差值；

将若干个相同膜材数据对应的若干个膜温数据、记温数据、记风数据和膜出数据按照膜厚均值的计算方式计算出对应的均值，并将其依次标记为膜温均值、记温均值、记风均值和膜出均值，将若干个相同膜材数据对应的若干个膜耗数据进行均值计算，计算出膜耗均值；

对若干个若干个膜耗均值与膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值进行变量处理，得到膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值和膜出初始值；

将膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子、膜温均值、记温均值、记风均值、膜厚均差值、和膜出均值带入到耗时评分计算式，计算出耗时评分值Pr。