[发明专利]一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法

说明书

本发明涉及镀膜检测技术领域，具体为一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统，包括镀取单元、膜识单元、云储单元、处理器、镀分理单元、镀判处单元和镀警单元；所述镀取单元用于实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据，并将实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据标定为实镀信息，并将实镀信息传输至膜识单元；本发明通过对镀膜的相关数据进行整合处理，处理得到相关的关联数据，依据相关的关联数据进行变量数值的分析处理，从而计算出各项数值的影响数值，并依据影响数值进行关联度计算，依据计算的数据进行比对判断，从而判定镀膜的均匀性，增加数据分析的精确性，提高工作效率。

技术领域

本发明涉及镀膜检测技术领域，具体为一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法。

背景技术

光学镀膜是指在光学零件表面上镀上一层(或多层)金属(或介质)薄膜的工艺过程，在光学零件表面镀膜的目的是为了达到减少或增加光的反射、分束、分色、滤光、偏振等要求。常用的镀膜法有真空镀膜(物理镀膜的一种)和化学镀膜。

在镀膜过程中，由于镀膜的种类不同，需要镀膜的物件不同，导致在镀膜过程中的厚度均匀不相同，从而导致镀膜的整体质量以及美观度，同时，现有的检测设备无法对镀膜的厚度均匀性进行检测，导致系统判定出现错误，无法依据镀膜时的相关影响因素进行数据分析，进而对镀膜进行数值转换的分析判断。

为此，我们提出一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法，通过对镀膜的相关数据进行整合处理，处理得到相关的关联数据，依据相关的关联数据进行变量数值的分析处理，从而计算出各项数值的影响数值，并依据影响数值进行关联度计算，依据计算的数据进行比对判断，从而判定镀膜的均匀性，增加数据分析的精确性，提高工作效率；通过计算的相关数据依据采集的各类图像数值，对采集的影响进行识别处理，并依据识别处理的结果进行虚拟成像，并通过虚拟成像的数值进行虚实转化，从而判定出所需数据的实际值，节省数据分析所消耗的时间，增加识别的准确性。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统，包括镀取单元、膜识单元、云储单元、处理器、镀分理单元、镀判处单元和镀警单元；

所述镀取单元用于实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据，并将实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据标定为实镀信息，并将实镀信息传输至膜识单元；

所述云储单元内存储有学镀膜机镀膜相关度的记膜信息，所述膜识单元用于从云储单元内获取记膜信息，并将记膜信息与实镀信息进行镀膜识别操作，将得到的膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据传输至处理器；

所述处理器用于对膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜耗数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据进行镀膜分理操作，将处理得到的膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同传输至镀判处单元；

所述镀判处单元用于对膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同进行镀膜判处操作，得到均匀信号和不均匀信号，并将均匀信号和不均匀信号传输至镀警单元；

所述镀警单元用于接收并显示均匀信号和不均匀信号，并发出对应的提示信号。

进一步的，镀膜识别操作的具体操作过程为：