[发明专利]角度计算方法、装置、存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种角度计算方法，其特征在于，所述方法包括：

获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间；

基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准；

基于校准后的码盘，获取在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度和采样转速下所述码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，N大于等于0且小于等于n，n为所述码盘的最后一号齿，其中，N号齿为当前采样时刻所对应的齿数；

在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿对应的角度中查找所述采样温度以及采样转速下0号齿到N-1号齿对应的角度；

基于所述第N号齿对应的目标高电平时间、目标低电平时间以及所述N号齿对应的角度，得到所述N号齿对应的目标转速；

基于所述采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N-1号齿对应的角度、N号齿对应的目标转速以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于校准后的码盘，获取在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度之前，所述方法还包括：

判断采样温度和采样转速与预设温度和预设转速是否相同；

若采样温度和采样转速与预设温度和预设转速不相同时，采用插值法获取采样温度和采样转速下所述码盘0号齿到N号齿对应的角度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准，包括：

获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平理论时间以及低电平理论时间；

若在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的实际高电平时间与对应的高电平理论时间在误差范围内，且在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的实际低电平时间与对应的低电平理论时间在误差范围内，则确定所述码盘校准成功。

4.权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度、所述目标高电平时间、所述目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值，包括：

θk＝∑(θ(0)+θ(1)+…+θ(n-1))+∑ωn*Ts，所述θk为所述实际转动角度值；

其中，所述θ(0)为0号齿对应的角度，所述θ(1)为1号齿对应的角度，所述θ(n-1)为N-1号齿对应的角度，所述ωn为目标转速，所述Ts为预设采样周期，∑ωn*Ts为N号齿上升沿跳变后的实际采样时间对应的角度值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的低电平时间的最大值；

将所述最大值对应的齿确定为0号齿。

6.一种角度计算装置，其特征在于，所述装置包括：

时间获取模块，用于获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间；

码盘校准模块，用于基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准；

角度获取模块，用于基于校准后的码盘，获取在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度和采样转速下所述码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，N大于等于0且小于等于n，n为所述码盘的最后一号齿，其中，N号齿为当前采样时刻所对应的齿数；

角度确定模块，用于在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿对应的角度中查找所述采样温度以及采样转速下0号齿到N-1号齿对应的角度；基于所述第N号齿对应的目标高电平时间、目标低电平时间以及所述N号齿对应的角度，得到所述N号齿对应的目标转速；基于所述采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N-1号齿对应的角度、N号齿对应的目标转速以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值。