[发明专利]角度计算方法、装置、存储介质及电子设备

说明书

本申请公开了一种角度计算方法、装置、存储介质及电子设备，其中方法包括：获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间与低电平时间，基于各高电平时间与各低电平时间对码盘进行校准，基于校准后的码盘，获取在采样温度和采样转速下码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度和采样转速下码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，基于采样温度和采样转速下码盘中0号齿到N‑1号齿对应的角度、目标高电平时间、目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值。采用本方案，通过码盘与光电开关的检测，实现提高转速检测准确性的效果。

技术领域

本申请涉及计算机领域，尤其涉及一种角度计算方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

电机的应用已经渗透到日常生活的方方面面当中，上至航天事业，下至玩具零件，电机都扮演着重要的角色。为了保障电机的正常运行，对电机进行检测是一项必不可少的工作。

发明内容

本申请实施例提供了一种角度计算方法、装置、存储介质及电子设备，通过码盘与光电开关的检测，实现提高转速检测准确性的效果。本技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种角度计算方法，其特征在于，所述方法包括：

获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间；

基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准；

基于校准后的码盘，获取在采样温度下采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度下采样转速下所述码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，N大于等于0且小于等于n，n为所述码盘的最后一号齿，其中，N号齿为当前采样时刻所对应的齿数；

基于所述采样温度下采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度、所述目标高电平时间、所述目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值。

第二方面，本申请实施例提供了一种角度计算装置，其特征在于，所述装置包括：

时间获取模块，用于获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间；

码盘校准模块，用于基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准；

角度获取模块，用于基于校准后的码盘，获取在采样温度下采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度下采样转速下所述码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，N大于等于0且小于等于n，n为所述码盘的最后一号齿，其中，N号齿为当前采样时刻所对应的齿数；

角度确定模块，用于基于所述采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度、所述目标高电平时间、所述目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值。

第三方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备，可包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。

本申请实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：

通过获取不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间对码盘进行校准，并在码盘校准后再通过获取采样温度下各个齿的高电平时间以及低电平时间计算对应的转速和角度，得到码盘的实际转动角度值，实现提高转速检测准确性的效果。

附图说明