[发明专利]射频芯片的测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种射频芯片的测试系统，其特征在于，包括：

测试机台；

测试板，连接所述测试机台和射频仪表，用于放置一颗或者多颗射频芯片；

射频仪表，连接所述测试机台和所述测试板，所述射频仪表包括多个射频测试端口，多个射频测试端口分别连接每一所述射频芯片的射频输入端口和/或射频输出端口，以并行测试一颗或多颗所述射频芯片。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述射频测试端口包括：

信号接收端口，用于接收一颗或多颗射频芯片发送的发射信号，其中，射频芯片的每一射频输出端口对应一个信号接收端口；

信号发送端口，用于向一颗或多颗射频芯片发送载波信号，其中，射频芯片的每一射频输入端口对应一个信号发送端口。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，每一所述射频芯片的射频输入和/或射频输出端口通过测试板连接对应射频仪表的射频发送端口和/或射频接收端口，其中，射频芯片的射频输出端口和/或射频输入端口的数量不大于射频仪表的端口数量。

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述射频测试端口包括多个信号接收端口，其中，每一信号接收端口连接一颗所述射频芯片的一个射频输出端口。

5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，

所述信号接收端口与射频芯片的射频输出端口通过射频线缆连接；

所述信号发送端口与射频芯片的射频输入端口通过射频线缆连接。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述射频线缆包括同轴射频线缆。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

所述测试机台通过弹簧针与所述测试板连接，所述测试机台用于为所述测试板中的至少一颗所述射频芯片供电，以及，用于获取至少一颗所述射频芯片的输出结果；

所述测试机台通过网络线缆连接所述射频仪表，所述测试机台用于驱动所述射频仪表，以完成射频信号的输入和采样。

8.根据权利要求1-7任一项所述的系统，其特征在于，所述测试机台包括ATE测试机台，所述射频仪表包括PXI射频仪表。

9.一种射频芯片的测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-8任一项所述的射频芯片的测试系统，所述方法包括：

接收测试指令；

根据所述测试指令，对所述测试板上的一颗或多颗射频芯片进行并行测试，以确定一颗或多颗所述射频芯片的测试结果。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述测试指令包括发射性能测试指令以及接收性能测试指令，所述根据所述测试指令，对所述测试板上的一颗或多颗射频芯片进行并行测试，以确定一颗或多颗所述射频芯片的测试结果，包括：

若所述测试指令为发射性能测试指令，则通过所述测试机台配置所述射频芯片的同时，发送SCPI指令设置测量环境，对所述测试板上的一颗或多颗射频芯片进行发射性能测试，以确定一颗或多颗所述射频芯片的发射性能测试结果；

若所述测试指令为接收性能测试指令，则通过所述测试机台发送SCPI指令，根据所述SCPI指令，为不同的射频芯片设置不同频率的载波信号，对所述测试板上的一颗或多颗射频芯片进行接收性能测试，以确定一颗或多颗所述射频芯片的接收性能测试结果。