[发明专利]一种在线修改测试向量进行热点分析的方法和系统在审

专利信息
申请号: 202111669983.4 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114487769A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 刘威龙;季春葵;郑朝晖 申请(专利权)人: 上海季丰电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 党蕾
地址: 201100 上海市闵行*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 在线 修改 测试 向量 进行 热点 分析 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种在线修改测试信号进行热点分析的方法,其特征在于,包括:

S1:将一失效芯片设置在一热点分析测试台使用的测试板上,通过一单片机推送一测试程序到所述失效芯片中,并通过一示波器捕捉波形比对一自动测试设备的波形,确认所述失效芯片正常运行测试程序;

S2:对所述失效芯片进行测试程序输出测试,并通过一热点分析设备对所述失效芯片进行一热点分析。

2.根据权利要求1所述的一种在线修改测试信号进行热点分析的方法,其特征在于,步骤S1包括:

S11:利用一测试程序转换工具将所述热点分析的测试程序转换为所述单片机的测试程序;

S12:将所述单片机的测试程序通过一电缆加载到所述单片机中;

S13:所述单片机将所述热点分析的测试程序传至所述失效芯片。

3.根据权利要求2所述的一种在线修改测试信号进行热点分析的方法,其特征在于,步骤S13包括:

S131:把获取所述自动测试设备的测试程序转换成所述单片机运行的程序,并传至所述单片机中;

S132:用一示波器测试所述单片机的输出波形;

S133:根据所述示波器的输出波形比对所述自动测试设备的输出波形,并改装所述失效芯片的导线连接,并把所述失效芯片重新焊接到所述测试板上。

4.根据权利要求3所述的一种在线修改测试信号进行热点分析的方法,其特征在于,在步骤S133之后,还有:

S134:将所述单片机和所述测试板连接,所述单片机将所述自动测试设备的测试程序传至所述失效芯片并测试所述失效芯片的输出信号。

5.根据权利要求1所述的一种在线修改测试信号进行热点分析的方法,其特征在于,步骤S2中,当所述单片机和所述失效芯片同时运行,同时运行状态满足所述自动测试设备的测试环境时,使用所述热点分析设备进行所述热点分析。

6.一种在线修改测试信号进行热点分析的系统,用于实施权利要求1-5中任意一项所述的方法,其特征在于,包括:

所述计算机(1);

所述单片机(5),连接所述计算机(1),在一数据的作用下产生激发所述失效芯片的测试信号;

所述测试板(2),连接所述单片机(5),用于测试所述失效芯片的测试程序。

7.如权利要求6所述的一种在线修改测试信号进行热点分析的系统,其特征在于,还包括:

所述热点分析设备(6)的测试台,所述热点分析设备(6)的测试台设置在所述测试板(2)的下方。

8.如权利要求6所述的一种在线修改测试信号进行热点分析的系统,其特征在于,还包括:

所述失效芯片(4),所述失效芯片(4)设置在所述热点分析设备(6)的测试台上,用于产生所述热点分析的测试信号。

9.根据权利要求6所述的一种在线修改测试信号进行热点分析的系统,其特征在于,所述计算机(1)将所述热点分析的所需测试信号转换为所需数据。

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