[发明专利]一种在线修改测试向量进行热点分析的方法和系统

说明书

本发明属于电子技术领域，具体涉及一种热点分析的方法和系统，包括：S1：将一失效芯片设置在一热点分析设备使用的测试板上，并通过单片机推送一测试程序到所述失效芯片中，通过一示波器捕捉波形比对一自动测试设备波形，确认所述失效芯片正常运行的测试程序；S2：通过所述热点分析设备对所述失效芯片进行一热点分析。有益效果：实现了对失效芯片产品在自动测试状态下进行热点分析，提高了产品的检出率，有效改善了芯片产品的生产质量。

技术领域

本发明属于电子技术领域，具体涉及一种热点分析的方法和系统。

背景技术

在当今数字化时代背景下，集成电路芯片已然成为通信、计算机、消费类电子产品的基础应用器件，其被誉为信息时代革命的旗手，可以说，集成电路芯片将是未来集成电路中发展最快的产品，并成为电子信息产品更新换代的决定性因素，它彻底变革了人们的工作生活方式。

现有技术存在的问题是：常规环境下对芯片的失效样品进行芯片针脚对针脚(pinto pin)的热点分析，很难将样品控制在某种测试状态(ATE测试状态)中出现的失效产品进行热点分析。在分析集成电路芯片的失效原因时，常常遇到特定的输入信号才会激发故障模式，芯片的时钟信号、控制信号等输入引脚，需要加载特定的测试程序，对于ATE测试机来说，生成输入信号易于实现，然而，若使用测试机加载测试的输入信号，需要将故障芯片放置在符合测试机要求的印制电路板PCB/插座Socket上，无法进行热点分析。常规的热点分析设备，不具备多路的复杂的测试信号的加载功能。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种在线修改测试向量进行热点分析的方法和系统，旨在解决上述存在的技术问题。

本发明的一种在线修改测试向量进行热点分析的方法，包括：

S1：将一失效芯片设置在一热点分析测试台使用的测试板上，通过一单片机推送一测试程序到所述失效芯片中，并通过一示波器捕捉波形比对一自动测试设备的波形，确认所述失效芯片正常运行测试程序；

S2：对所述失效芯片进行测试程序输出测试，并通过一热点分析设备对所述失效芯片进行一热点分析。

优选地，步骤S1包括：

S11：利用一测试程序转换工具将所述热点分析的测试程序转换为所述单片机的测试程序；

S12：将所述单片机的测试程序通过一电缆加载到所述单片机中；

S13：所述单片机将所述热点分析的测试程序传至所述失效芯片。

优选地，步骤S13包括：

S131：把获取所述自动测试设备的测试程序转换成所述单片机运行的程序，并传至所述单片机中；

S132：用一示波器测试所述单片机的输出波形；

S133：根据所述示波器的输出波形比对所述自动测试设备的输出波形，并改装所述失效芯片的导线连接，并把所述失效芯片重新焊接到所述测试板上。

优选地，在步骤S133之后，还有：

S134：将所述单片机和所述测试板连接，所述单片机将所述自动测试设备的测试程序传至所述失效芯片并测试所述失效芯片的输出信号。

优选地，步骤S2中，当所述单片机和所述失效芯片同时运行，同时运行状态满足所述自动测试设备的测试环境时，使用所述热点分析设备进行所述热点分析。

一种在线修改测试信号进行热点分析的系统，用于实施上述的一种在线修改测试向量进行热点分析的方法，其特征在于，包括：

所述计算机(1)；

所述单片机(5)，连接所述计算机(1)，在一数据的作用下产生激发所述失效芯片的测试信号；