[发明专利]一种芯片测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111675911.0 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN114295963A 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 程子翔;任殿升;陈余;边慧;周大锋 申请(专利权)人: 龙迅半导体(合肥)股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 柳虹
地址: 230601 安徽省合肥市经济技*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 测试 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种芯片测试方法,其特征在于,应用于第一芯片,所述第一芯片至少包括标准视频接口DP信号接收端口,所述方法包括:

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收第二芯片利用DP信号发送端口发送的测试数据,所述第二芯片至少包括标准视频接口DP信号发送端口;

所述第一芯片对所述测试数据进行误码统计,得到误码数量,所述误码数量反映所述第一芯片是否能够正常接收所述DP信号。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一芯片包括误码统计模块,则所述第一芯片对所述测试数据进行误码统计,得到误码数量包括:

所述误码统计模块对所述测试数据进行误码统计,得到误码数量。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二芯片包括DP信号发生器;

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收第二芯片利用DP信号发送端口发送的测试数据包括:

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收所述DP信号发生器产生的利用DP信号发送端口发送的测试数据。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一芯片包括串并转换模块和解码器;所述第二芯片包括编码器和并串转换模块;

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收所述DP信号发生器产生的利用DP信号发送端口发送的测试数据之前,所述方法还包括:

所述编码器接收所述DP信号发生器产生的初始测试数据,并根据DP协议对所述初始测试数据进行编码,得到并行的测试数据;

所述并串转换模块接收所述并行的测试数据,转换为串行的测试数据;

所述第一芯片对所述测试数据进行误码统计,得到误码数量之前,所述方法还包括:

所述第一芯片接收所述第二芯片发送的串行的测试数据,利用所述串并转换模块转换为并行的测试数据;

所述解码器接收所述并行的测试数据,并根据DP协议对所述并行的测试数据进行解码,得到所述初始测试数据。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的方法,其特征在于,所述第一芯片包括均衡器;所述第二芯片包括驱动器;

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收第二芯片利用DP信号发送端口发送的测试数据之前,所述方法还包括:

所述驱动器对所述测试数据进行调整,以提高所述测试数据的信号质量;

所述第一芯片对所述测试数据进行误码统计,得到误码数量之前,所述方法还包括:

所述均衡器对接收的所述测试数据进行调整,以提高所述测试数据的信号质量。

6.根据权利要求1-4任意一项所述的方法,其特征在于,所述第一芯片包括寄存器;

所述方法还包括:

所述误码数量存储在所述寄存器中;

控制器读取所述寄存器内存储的误码数量,得到所述第一芯片是否能够正常接收所述DP信号的结果。

7.一种芯片测试系统,其特征在于,所述系统包括:至少包括标准视频接口DP信号接收端口的第一芯片、至少包括标准视频接口DP信号发送端口的第二芯片;

所述第二芯片,用于利用所述DP信号发送端口向所述第一芯片发送测试数据;

所述第一芯片,用于利用所述DP信号接收端口接收所述测试数据以及对所述测试数据进行误码统计,得到误码数量,所述误码数量反映所述第一芯片是否能够正常接收所述DP信号。

8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述第一芯片包括误码统计模块,用于对所述测试数据进行误码统计,得到误码数量。

9.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述第二芯片包括DP信号发生器,用于产生所述测试数据。

10.根据权利要求7-9任意一项所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:控制器,用于读取所述误码数量,得到所述第一芯片是否能够正常接收所述DP信号的结果。

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