[发明专利]一种芯片测试方法及系统

说明书

本申请提供一种芯片测试方法及系统，第一芯片至少包括标准视频接口DP信号接收端口，第一芯片利用DP信号接收端口接收第二芯片利用DP信号发送端口发送的测试数据，第一芯片对接收到的测试数据进行误码统计，得到误码数量，误码数量能够反映第一芯片是否能够正常接收DP信号，也就是说，采用能够发送高速DP信号的第二芯片对第一芯片接收高速DP信号的性能进行测试，利用第一芯片接收高速的DP信号的误码数量反映第一芯片是否能够正常接收DP信号，相较于利用昂贵并且数据发送速率较低的测试机对第一芯片进行测试，能够满足DP协议芯片的高速测试需求，并且成本低廉，测试难度较低，测试准确率较高。

技术领域

本发明涉及半导体领域，特别涉及一种芯片测试方法及系统。

背景技术

当前在芯片出厂应用前，都会对芯片进行测试，以降低向用户提供性能不佳的芯片的概率。基于标准视频接口(DisplayPort，DP)协议的芯片基于在视频处理方面的优异性能，该类芯片的需求在日益增大。

DP协议芯片的数据传输速率很高，目前常用的测试方法无法满足DP协议芯片的高速测试需求。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片测试方法及系统，能够满足DP协议芯片的高速测试需求，并且成本低廉，测试难度较低，测试准确率较高。

本申请实施例提供了一种芯片测试方法，应用于第一芯片，所述第一芯片至少包括标准视频接口DP信号接收端口，所述方法包括：

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收第二芯片利用DP信号发送端口发送的测试数据，所述第二芯片至少包括标准视频接口DP信号发送端口；

所述第一芯片对所述测试数据进行误码统计，得到误码数量，所述误码数量反映所述第一芯片是否能够正常接收所述测试数据。

可选地，所述第一芯片包括误码统计模块，则所述第一芯片对所述DP信号进行误码统计，得到误码数量包括：

所述误码统计模块对所述测试数据进行误码统计，得到误码数量。

可选地，所述第二芯片包括DP信号发生器；

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收第二芯片利用DP信号发送端口发送的测试数据包括：

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收所述DP信号发生器产生的利用DP信号发送端口发送的测试数据。

可选地，所述第一芯片包括串并转换模块和解码器；所述第二芯片包括编码器和并串转换模块；

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收所述DP信号发生器产生的利用DP信号发送端口发送的测试数据之前，所述方法还包括：

所述编码器接收所述DP信号发生器产生的初始测试数据，并根据DP协议对所述初始测试数据进行编码，得到并行的测试数据；

所述并串转换模块接收所述并行的测试数据，转换为串行的测试数据；

所述第一芯片对所述测试数据进行误码统计，得到误码数量之前，所述方法还包括：

所述第一芯片接收所述第二芯片发送的串行的测试数据，利用所述串并转换模块转换为并行的测试数据；

所述解码器接收所述并行的测试数据，并根据DP协议对所述并行的测试数据进行解码，得到所述初始测试数据。

可选地，所述第一芯片包括均衡器；所述第二芯片包括驱动器；

所述第一芯片利用所述DP信号接收端口接收第二芯片利用DP信号发送端口发送的测试数据之前，所述方法还包括：

所述驱动器对所述测试数据进行调整，以提高所述测试数据的信号质量；