[发明专利]测试方法、装置、存储介质以及处理器

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于比例积分微分PID功能块中，包括：

读取测试用例，其中，所述测试用例至少包括：目标控制模式对应的输入参数，以及所述目标控制模式下的期望区间，所述期望区间包括：测量期望值的第一区间与反馈期望值的第二区间；

将所述测试用例所指示的所述输入参数写入至所述PID功能块，得到输出结结果；

判断所述输出结果是否属于所述期望值区间，得到判断结果，其中，所述输出结果包括：测量值与反馈值；

根据所述判断结果确定所述PID功能块是否通过测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述测试用例所指示的所述输入参数写入至所述PID功能块，得到输出结结果，包括：

确定所述测试用例所指示的等待时长；

将所述测试用例所指示的所述输入参数写入至所述PID功能块后，等待所述等待时长后，得到在所述等待时长内各个预定时刻的所述输出结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，判断所述输出结果是否属于所述期望值区间，包括：

获取各个预定时刻对应的所述第一区间与所述第二区间；

判断所述各个预定时刻的测量值是否属于所述第一区间，得到第一子判断结果；

判断所述各个预定时刻的反馈值是否属于所述第二区间，得到第二子判断结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述判断结果确定所述PID功能块是否通过测试，包括：

在所述第一子判断结果指示所述测量值属于所述第一区间，且所述第二子判断结果指示所述反馈值属于所述第二区间的情况下，确定所述PID功能块通过测试；

所述第一子判断结果指示所述测量值不属于所述第一区间，或者所述第二子判断结果指示所述反馈值不属于所述第二区间的情况下，确定所述PID功能块测试不通过。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在判断所述输出结果是否属于所述期望值区间之前，包括：

确定所述等待时长内各个预定时刻为平面坐标系的横轴；

确定所述输出结果为所述平面坐标系的纵轴，获取所述测量值对应的第一曲线以及所述反馈值对应的第二曲线。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在获取所述测量值对应的第一曲线以及所述反馈值对应的第二曲线之后，所述方法还包括：

获取所述各个预定时刻对应的所述第一区间、与所述第二区间；

确定在所述平面坐标系内所述第一区间对应的第三曲线，其中，所述第三曲线包括：所述第一区间中最大测量期望值对应的曲线与最小测量期望值对应的曲线；

确定在所述平面坐标系内所述第二区间对应的第四曲线，其中，所述第四曲线包括：所述第二区间中最大反馈期望值对应的曲线与最小反馈期望值对应的曲线。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，判断所述输出结果是否属于所述期望值区间，包括：

确定所述最大测量期望值对应的曲线与所述最小测量期望值对应的曲线之间的第一目标区域；

确定所述最大反馈期望值对应的曲线与所述最小反馈期望值对应的曲线之间的第二目标区域；

检测所述第一曲线是否落入第一目标区域，得到第一检测结果；

检测所述第二曲线是否落入所述第二目标区域，得到第二检测结果。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，根据所述判断结果确定所述PID功能块是否通过测试，包括：

在所述第一检测结果指示所述第一曲线落入所述第一目标区域，且所述第二检测结果指示所述第二曲线落入所述第二目标区域的情况下，确定所述PID功能块通过测试；

在所述第一检测结果指示所述测量值未落入所述第一目标区域，或者所述第二检测结果指示所述反馈值为落入所述第二目标区域的情况下，确定所述PID功能块测试不通过。