[发明专利]测试方法、装置、存储介质以及处理器

说明书

本申请公开了一种测试方法、装置、存储介质以及处理器。其中，该方法包括：读取测试用例，其中，测试用例至少包括：目标控制模式对应的输入参数，以及目标控制模式下的期望区间，期望区间包括：测量期望值的第一区间与反馈期望值的第二区间；将测试用例所指示的输入参数写入至PID功能块，得到输出结结果；判断输出结果是否属于期望值区间，得到判断结果，其中，输出结果包括：测量值与反馈值；根据判断结果确定PID功能块是否通过测试。本申请解决了由于相关技术中需要手动构建测试用例对PID功能块进行测试，并通过直观感觉判断输出结果造成的测试效率低下，测试结果不准确的技术问题。

技术领域

本申请涉及软件测试领域，具体而言，涉及一种测试方法、装置、存储介质以及处理器。

背景技术

随着软件迭代次数越来越频繁，对PID功能测试和迭代测试的频次响应要求更高。需要考虑针对PID测试的覆盖和时效性测试。传统PID功能的手工测试方式需要测试人员进行手动构建测试场景，设计测试用例，部署测试环境，逐条执行，并手动抄录测试结果。在这种传统的测试模式中，不仅需要花费较多的时间进行测试执行，而且需要测试人员在测试动作的前置条件上花费大量的时间，准备测试数据输入，并且对于MV输出没有标准输出范围，常常是靠直观感觉。

因此，迫切需要一种高效、可信、快速、自动的测试方法来代替传统的手工测试方案，以提升PID功能覆盖性测试以及输出曲线校验。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种测试方法、装置、存储介质以及处理器，以至少解决由于相关技术中需要手动构建测试用例对PID功能块进行测试，并通过直观感觉判断输出结果造成的测试效率低下，测试结果不准确的技术问题。

根据本申请实施例的一个方面，提供了一种测试方法，该测试方法应用于比例积分微分PID功能块，包括：读取测试用例，其中，测试用例至少包括：目标控制模式对应的输入参数，以及目标控制模式下的期望区间，期望区间包括：测量期望值的第一区间与反馈期望值的第二区间；将测试用例所指示的输入参数写入至PID功能块，得到输出结结果；判断输出结果是否属于期望值区间，得到判断结果，其中，输出结果包括：测量值与反馈值；根据判断结果确定PID功能块是否通过测试。

可选地，将测试用例所指示的输入参数写入至PID功能块，得到输出结结果，包括：确定测试用例所指示的等待时长；将测试用例所指示的输入参数写入至PID功能块后，等待该等待时长后，得到在等待时长内各个预定时刻的输出结果。

可选地，判断输出结果是否属于期望值区间，包括：获取各个预定时刻对应的第一区间与第二区间；判断各个预定时刻的测量值是否属于第一区间，得到第一子判断结果；判断各个预定时刻的反馈值是否属于第二区间，得到第二子判断结果。

可选地，根据判断结果确定PID功能块是否通过测试，包括：在第一子判断结果指示测量值属于第一区间，且第二子判断结果指示反馈值属于第二区间的情况下，确定PID功能块通过测试；第一子判断结果指示测量值不属于第一区间，或者第二子判断结果指示反馈值不属于第二区间的情况下，确定PID功能块测试不通过。

可选地，在判断输出结果是否属于期望值区间之前，包括：确定等待时长内各个预定时刻为平面坐标系的横轴；确定输出结果为平面坐标系的纵轴，获取测量值对应的第一曲线以及反馈值对应的第二曲线。

可选地，在获取测量值对应的第一曲线以及反馈值对应的第二曲线之后，方法还包括：获取各个预定时刻对应的第一区间、与第二区间；确定在平面坐标系内第一区间对应的第三曲线，其中，第三曲线包括：第一区间中最大测量期望值对应的曲线与最小测量期望值对应的曲线；确定在平面坐标系内第二区间对应的第四曲线，其中，第四曲线包括：第二区间中最大反馈期望值对应的曲线与最小反馈期望值对应的曲线。