[发明专利]芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种芯片IP准入验证方法，其特征在于，包括：

获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；

搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；

根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；

在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标IP的待验证版本之前包括：

设定数据库DB架构，所述DB架构用于存放至少两个项目的IP DB和SoC DB，所述数据库的目录采用嵌套子系统架构，所述数据库包括一个公用库、至少两个IP主数据库、至少两个IP分支数据库和至少两个SoC数据库，其中：

每个项目所使用的文件目录分类按照IP DB和SoC DB所使用的方式，公共的及多个IP需要共享的资源放置于所述公用库的目录下，根据各个IP的属性不同，IP本身的资源放置于IP主数据库，需要使用别的IP的资源时以引进的方式从其他IP主数据库获取相应的版本来进行；

IP分支数据库是在IP主数据库的基础上，按照不同的项目对各IP的定义需求生成得到，IP分支数据库是IP主数据库的直接镜像，拥有同样的目录结构，仅通过顶层的配置形成不同项目所需的IP分支数据库；

按照IP分支数据库的定义，配置需要的公用库内容、各IP分支数据库版本、以及SoC数据库的资源目录，即可形成不同项目所需的SoC数据库。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本，包括：

将所述待验证版本集成到所述IP分支数据库。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，不同项目所需的IP分支数据库的形成，是基于IP主数据库本身资源对于不同项目有不同的定义参数，或者是不同的引进需求，或者是公用库里使用的不同目录。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待验证版本是基于IP主数据库最新回归测试通过的版本进行修改得到。

6.根据权利要求1-5中任一所述的方法，其特征在于，所述在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC，包括：

在所述SoC级验证环境中芯片的数据通路划分为数据总线子系统和内存子系统两个层次，其中：

针对芯片的数据总线子系统，所述可用性测试所使用的测试集包括以下至少一种：寄存器读写访问数据通路，包括寄存器模型的前门和后门的随机寄存器测试；从验证环境的主接口模块到从接口模块的完整数据访问通路；基于所述修改清单所提出的相关特征测试；

和/或，针对芯片的内存子系统，所述内存子系统是在芯片的数据总线子系统的基础上进一步扩展封装得到，所述可用性测试所使用的测试集包括以下至少一种：不同验证平台配置下寄存器读写访问数据通路，包括寄存器模型的前门和后门的随机寄存器测试；不同验证平台配置下从验证环境的主接口模块到从接口模块的完整数据访问通路；基于所述修改清单所提出的相关特征测试；针对所述内存子系统的特殊性提取的典型特征测试。

7.一种芯片IP准入验证装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；

第一测试模块，用于搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；

组建模块，用于根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；

第二测试模块，用于在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。