[发明专利]芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明的实施例公开了一种芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，用以在IP改动后集成到SoC之前对IP进行验收，避免因IP质量不过关而把问题带入SoC。所述芯片IP准入验证方法包括：获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着设计与工艺技术的不断发展，集成电路设计的规模越来越大，组成SoC(片上系统)的IP模块种类和数量也越来越多。系统上进行SoC验证的复杂度也呈现指数级的增长。因此一个高效的验证平台使得验证迅速收敛显得尤为重要。为了缩短芯片的上市时间，节约开发成本，大部分芯片设计采用第三方IP与已有传承(legacy)设计混合开发的方式，典型SoC架构如图1所示。

各个IP模块层次结构在SoC的划分，及大规模集成电路版图布局的优化等，使得芯片上数据网络的结构和设计在项目中需要进行多次调整，每次调整都要进行相应的验证操作。相关技术中，大规模集成电路的验证通常采用IP(模块)级验证和SoC级验证分别进行的方式，即各子系统在IP级验证通过后直接集成到SoC，由于IP级验证与SoC级验证存在较大差异，常常出现已经通过IP级验证的IP模块无法通过SoC级验证的情况，从而浪费了宝贵的验证资源，大大增加了验证迭代周期。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种能够减少芯片验证迭代周期的芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质。

第一方面，本发明实施例提供一种芯片IP准入验证方法，包括：

获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；

搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；

根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；

在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。

结合第一方面，在第一方面的一种实施方式中，所述获取目标IP的待验证版本之前包括：

设定数据库DB架构，所述DB架构用于存放至少两个项目的IP DB和SoC DB，所述数据库的目录采用嵌套子系统架构，所述数据库包括一个公用库、至少两个IP主数据库、至少两个IP分支数据库和至少两个SoC数据库，其中：

每个项目所使用的文件目录分类按照IP DB和SoC DB所使用的方式，公共的及多个IP需要共享的资源放置于所述公用库的目录下，根据各个IP的属性不同，IP本身的资源放置于IP主数据库，需要使用别的IP的资源时以引进的方式从其他IP主数据库获取相应的版本来进行；

IP分支数据库是在IP主数据库的基础上，按照不同的项目对各IP的定义需求生成得到，IP分支数据库是IP主数据库的直接镜像，拥有同样的目录结构，仅通过顶层的配置形成不同项目所需的IP分支数据库；

按照IP分支数据库的定义，配置需要的公用库内容、各IP分支数据库版本、以及SoC数据库的资源目录，即可形成不同项目所需的SoC数据库。