[实用新型]一种多通道芯片测试设备

权利要求书

1.一种多通道芯片测试设备，包括测试设备本体（1）和支撑箱（2），其特征在于：所述支撑箱（2）顶部的四角均固定连接有支撑柱（3），所述支撑柱（3）的顶部固定连接有支撑板（4），所述支撑板（4）的底部固定连接有电推杆（5），所述电推杆（5）的底部固定连接有散热箱（6），所述散热箱（6）内腔顶部的两侧均固定连接有固定板（7），两个固定板（7）之间固定连接有散热管（8），所述散热管（8）的底部连通有散热喷头（9），所述散热管（8）的右端连通有输送软管（10），所述散热箱（6）两侧的前侧与后侧均固定连接有定位板（11），所述定位板（11）的底部固定连接有限位柱（12），所述限位柱（12）的表面套设有弹簧（13），所述限位柱（12）的底部套设有限位块（14），所述限位块（14）的底部固定连接有限位板（15），所述支撑板（4）底部的右侧固定连接有固定箱（16），所述固定箱（16）的内腔固定连接有散热风机（17），所述散热风机（17）的右侧连通有进风管（18），所述散热风机（17）的左侧连通有出风管（19），所述出风管（19）的左端与输送软管（10）连通。

2.根据权利要求1所述的一种多通道芯片测试设备，其特征在于：所述支撑箱（2）的底部固定连接有固定块（20），所述固定块（20）的数量为四个。

3.根据权利要求1所述的一种多通道芯片测试设备，其特征在于：所述限位板（15）的底部固定连接有缓冲垫（21），所述缓冲垫（21）的底部设置有防滑纹。

4.根据权利要求1所述的一种多通道芯片测试设备，其特征在于：所述散热风机（17）的底部固定连接有安装座（22），所述安装座（22）的底部与固定箱（16）内腔的底部固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种多通道芯片测试设备，其特征在于：所述散热箱（6）的两侧均开设有散热孔（23），所述散热孔（23）的数量为四个。