[实用新型]一种硅片研磨机用测厚装置有效
申请号: | 202120153614.9 | 申请日: | 2021-01-20 |
公开(公告)号: | CN214519255U | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 沈益军;吴雄杰;张立安;潘金平;饶伟星;肖世豪;苏文霞;梁奎;冯小娟;孟柱;余天威 | 申请(专利权)人: | 浙江海纳半导体有限公司 |
主分类号: | B24B7/22 | 分类号: | B24B7/22;B24B27/00;B24B49/00 |
代理公司: | 温州青科专利代理事务所(特殊普通合伙) 33390 | 代理人: | 钱磊 |
地址: | 324300 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅片 研磨机 用测厚 装置 | ||
1.一种硅片研磨机用测厚装置,包括打磨机台面(1),其特征在于:所述打磨机台面(1)顶部设置有下磨盘(2),所述下磨盘(2)顶部设有上磨盘(3),所述上磨盘(3)上开设有圆孔,所述圆孔内部设有圆板(4),所述圆板(4)通过轴承与圆孔活动连接,所述圆板(4)顶部边缘固定套接有蜗轮(5),所述蜗轮(5)一侧设置有操作装置,所述圆板(4)上开设有安装孔(6),所述安装孔(6)设置在圆板(4)表面靠近边缘处,所述圆板(4)顶部设有固定板(7),所述固定板(7)顶面开设有限位槽(8),所述固定板(7)通过限位装置与圆板(4)连接,所述固定板(7)上固定连接有电极(9),所述电极(9)底端延伸至安装孔(6)内,所述电极(9)顶端固定连接有探头(10)。
2.根据权利要求1所述的一种硅片研磨机用测厚装置,其特征在于:所述操作装置包括蜗杆(11),所述蜗杆(11)与蜗轮(5)啮合,所述蜗杆(11)上固定安装有两个轴承座(12),所述轴承座(12)与圆板(4)上磨盘(3)固定连接,所述蜗杆(11)一端固定连接有旋钮(13)。
3.根据权利要求1所述的一种硅片研磨机用测厚装置,其特征在于:所述上磨盘(3)顶部固定连接有套盒(14),所述套盒(14)顶端固定连接有导杆(15),所述套盒(14)内部固定安装有转换器(16),所述转换器(16)上固定连接有第一电缆和第二电缆,所述第一电缆贯穿套盒(14)并且与探头(10)连接,所述第二电缆依次贯穿套盒(14)以及导杆(15)并延伸至导杆(15)外部。
4.根据权利要求1所述的一种硅片研磨机用测厚装置,其特征在于:所述限位装置包括基板(17),所述基板(17)通过转轴与圆板(4)活动连接,所述基板(17)顶部设置有限位销(18),所述限位销(18)底端贯穿基板(17)并且延伸至限位槽(8)内,所述限位销(18)上套接有拉簧(19),所述拉簧(19)两端分别与限位销(18)以及基板(17)固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种硅片研磨机用测厚装置,其特征在于:所述电极(9)优先由导电陶瓷材质制成,所述电极(9)还可以由超重掺硅棒材质制成。
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