[实用新型]一种快速检测可控硅带载与散热能力的装置有效
申请号: | 202120166387.3 | 申请日: | 2021-01-21 |
公开(公告)号: | CN214555439U | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 张正荣;颜呈祥 | 申请(专利权)人: | 江苏捷捷微电子股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 卢海洋 |
地址: | 226200 江苏省南通*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 快速 检测 可控硅 散热 能力 装置 | ||
1.一种快速检测可控硅带载与散热能力的装置,其特征在于,包括交流电源、大功率负载、被测可控硅、主控电路、开关电路、电流检测电路、过零检测电路、显示电路和外部温度检测电路;
所述交流电源用于提供一个频率和幅度成正弦交变周期的电源信号,以便于电路使用;
所述主控电路用于控制可控硅在单个正弦周期内的导通角度、调节流过待测可控硅的有效电流值,所述主控电路还用于锁定需要的有效电流值标准,所述主控电路还用于实时比对被测电流值与锁定的有效电流的偏差率,所述主控电路还用于记录待测可控硅有效的工作时长,给到显示电路显示用,以供设计人员评估可控硅带载性能;
所述开关电路用于控制整个回路的导通、关断;
所述电流检测电路用于检测流过被测可控硅的有效电流;
所述过零检测电路用于检测输入的交流电源在单个正弦周期内的两个过零点,供给主控电路,进行待测可控硅导通角度的精确控制;
所述显示电路用于实时显示相应有效电流值、工作时间、温度测试数据;
所述外部温度检测电路用于实时检测可控硅表面工作温度状态,反馈给控制电路来显示输出。
2.根据权利要求1所述的快速检测可控硅带载与散热能力的装置,其特征在于:所述被测可控硅选自单向可控硅、双向可控硅中任一种。
3.根据权利要求1所述的快速检测可控硅带载与散热能力的装置,其特征在于:所述外部温度检测电路采用红外热成像仪、红外枪、点温计、温度传感器中的任一种。
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