[实用新型]一种快速检测可控硅带载与散热能力的装置

说明书

本实用新型公开了一种快速检测可控硅带载与散热能力的装置，包括交流电源、大功率负载、被测可控硅、主控电路、开关电路、电流检测电路、过零检测电路、显示电路和外部温度检测电路；交流电源用于提供电源信号；主控电路用于控制被测可控硅导通角度、调节有效电流值；开关电路用于回路的导通、关断；电流检测电路用于检测有效电流。采用本实用新型的装置的试验方法的测试时间较快，一般从准备工作到测试完成基本控制在半小时内，效率较高。可以有效对比同样电流下，同样工作时长下的可控硅的发热状态，来选择性价比最高的可控硅。本实用新型大大的缩短了测试周期，降低了测试成本，提高设计效率。

技术领域

本实用新型涉及可控硅检测技术领域，尤其涉及一种快速检测可控硅带载与散热能力的装置。

背景技术

现有的市面上关于可控硅带载能力测试装置及试验方法，都存在测试周期长，投入成本大，功能单一等问题。一般是采用断续的大电流来冲击可控硅，以此来验证可控硅耐短路电流的次数。而当大批量生产过程中出现异常时，如可控硅反接、虚焊、可控硅本身质量异常等问题，需要对已经焊接到电路板上的可控硅进行性能判断时，市面上也没有能进行快速判断电路板整体性能的试测试装置及试验方法，没办法快速筛选出失效电路板。

实用新型内容

为解决上述缺陷，本实用新型的目的是在于提供一种快速检测可控硅带载与散热能力的装置，通过此装置及试验方法可以快速、有效、方便的测试出可控硅的极限带载能力、散热能力，以便于电路设计人员快速、有效的选择适合的可控硅，大大的缩短了测试周期，降低了测试成本，提高设计效率。

同时通过本实用新型提供的试验方法，可以快速的筛选出大批量生产过程中存在小批异常的可控硅，提高生产效率。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

一种快速检测可控硅带载与散热能力的装置，包括交流电源、大功率负载、被测可控硅、主控电路、开关电路、电流检测电路、过零检测电路、显示电路和外部温度检测电路；

所述交流电源用于提供一个频率和幅度成正弦交变周期的电源信号，以便于电路使用；

所述主控电路用于控制可控硅在单个正弦周期内的导通角度、调节流过待测可控硅的有效电流值，所述主控电路还用于锁定需要的有效电流值标准，所述主控电路还用于实时比对被测电流值与锁定的有效电流的偏差率，所述主控电路还用于记录待测可控硅有效的工作时长，给到显示电路显示用，以供设计人员评估可控硅带载性能；

所述开关电路用于控制整个回路的导通、关断；

所述电流检测电路用于检测流过被测可控硅的有效电流；

所述过零检测电路用于检测输入的交流电源在单个正弦周期内的两个过零点，供给主控电路，进行待测可控硅导通角度的精确控制；

所述显示电路用于实时显示相应有效电流值、工作时间、温度测试数据；

所述外部温度检测电路用于实时检测可控硅表面工作温度状态，反馈给控制电路来显示输出。

进一步地，所述被测可控硅选自单向可控硅、双向可控硅中任一种。

进一步地，所述外部温度检测电路采用包括但不受限于红外热成像仪、红外枪、点温计、温度传感器中的任一种。

一种快速检测可控硅带载与散热能力的试验方法，包括如下步骤：

通过控制可控硅在单个周期内的导通角度来实现调节流过可控硅的有效电流；根据不同规格的可控硅，来调节所需的试验有效电流值，当电流值调节到所需的试验电流后，锁定当前的导通角度及试验电流后，断电；