[实用新型]锁存器、数据运算单元以及芯片有效
申请号: | 202120189190.1 | 申请日: | 2021-01-21 |
公开(公告)号: | CN214228230U | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 北京源启先进微电子有限公司 |
主分类号: | H03K19/003 | 分类号: | H03K19/003;H03K19/0175 |
代理公司: | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人: | 李杰 |
地址: | 100176 北京市大兴区经济开*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 锁存器 数据 运算 单元 以及 芯片 | ||
1.一种锁存器,其特征在于,包括:
输入端,用于输入数据;
时钟信号端,用于提供时钟信号;
锁存单元,与所述输入端连接,用于在所述时钟信号的控制下锁存从所述输入端输入的数据;
输出单元,与所述锁存单元连接,用于传输所述锁存单元输出的数据;所述输出单元与所述锁存单元之间具有一数据存储节点;
输出端,用于从所述输出单元读出数据;
漏电补偿单元,电性连接在所述数据存储节点和所述输出端之间,当所述锁存单元在所述时钟信号的控制下处于高阻状态时,所述漏电补偿单元用于基于所述输出端输出的数据,对所述数据存储节点进行漏电补偿。
2.根据权利要求1所述的锁存器,其特征在于,
所述漏电补偿单元包括:第一漏电补偿电路和第二漏电补偿电路;
所述第一漏电补偿电路的一端与所述数据存储节点连接,另一端与所述输出端连接;当所述数据存储节点处为高电平状态时,所述第一漏电补偿电路用于对所述数据存储节点进行漏电补偿;
所述第二漏电补偿电路的一端与所述数据存储节点连接,另一端与所述输出端连接;当所述数据存储节点处为低电平状态时,所述第二漏电补偿电路用于对所述数据存储节点进行漏电补偿。
3.根据权利要求2所述的锁存器,其特征在于,
所述第一漏电补偿电路包括:第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管;
所述第一PMOS晶体管的源极与电源连接,所述第一PMOS晶体管的栅极与所述输出端连接;所述第一PMOS晶体管的漏极与所述第二PMOS晶体管的源极连接;
所述第二PMOS晶体管的栅极与电源连接;所述第二PMOS晶体管的漏极与所述数据存储节点连接;
所述第二漏电补偿电路包括:第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管;
所述第一NMOS晶体管的源极与地连接,所述第一NMOS晶体管的栅极与所述输出端连接;所述第一NMOS晶体管的漏极与所述第二NMOS晶体管的源极连接;
所述第二NMOS晶体管的栅极与地连接;所述第二PMOS晶体管的漏极与所述数据存储节点连接。
4.根据权利要求2所述的锁存器,其特征在于,
所述第一漏电补偿电路包括:第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管;
所述第一PMOS晶体管的源极与电源连接,所述第一PMOS晶体管的栅极与电源连接;所述第一PMOS晶体管的漏极与所述第二PMOS晶体管的源极连接;
所述第二PMOS晶体管的栅极与所述输出端连接;所述第二PMOS晶体管的漏极与所述数据存储节点连接;
所述第二漏电补偿电路包括:第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管;
所述第一NMOS晶体管的源极与地连接,所述第一NMOS晶体管的栅极与地连接;所述第一NMOS晶体管的漏极与所述第二NMOS晶体管的源极连接;
所述第二NMOS晶体管的栅极与所述输出端连接;所述第二PMOS晶体管的漏极与所述数据存储节点连接。
5.根据权利要求1-3任一所述的锁存器,其特征在于,
所述锁存单元包括:反相器和第一传输门;
所述反相器与所述输入端连接,用于对所述输入端输入的数据进行反相操作;
所述第一传输门与所述反相器连接,用于传输经所述反相器反相后的数据;所述第一传输门与所述时钟信号端连接,用于控制所述锁存单元的状态,所述锁存单元的状态包括:高阻状态或导通状态。
6.根据权利要求5所述的锁存器,其特征在于,所述第一传输门为抗漏电器件。
7.根据权利要求1-3任一所述的锁存器,其特征在于,所述锁存单元包括:第二传输门。
8.根据权利要求1-3任一所述的锁存器,其特征在于,所述锁存单元包括:三态反相器。
9.一种数据运算单元,其特征在于,包括互联连接的控制电路、运算电路、多个锁存器,所述锁存器为权利要求1-8任一项所述的锁存器。
10.一种芯片,其特征在于,包括至少一个如权利要求9所述的数据运算单元。
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